SEMI-PointRend: Phân tích lỗi bán dẫn cải tiến trong ảnh SEM

Dấu thời gian: Ngày 10 tháng 2023 năm 7 21:XNUMX CH
Nút nguồn: 2005941

Trong thế giới sản xuất chất bán dẫn, các lỗi có thể ảnh hưởng rất lớn đến hiệu suất của thiết bị. Vì vậy, điều quan trọng là có thể phát hiện và phân tích chính xác các khiếm khuyết này để đảm bảo rằng thiết bị hoạt động bình thường. SEMI-PointRend là một công cụ mới đã được phát triển để trợ giúp công việc này.

SEMI-PointRend là một công cụ phân tích cải tiến cho các khuyết tật bán dẫn trong hình ảnh kính hiển vi điện tử quét (SEM). Nó sử dụng các thuật toán học máy để phát hiện và phân loại các lỗi trong ảnh SEM. Công cụ này được thiết kế nhanh và chính xác, cho phép phân tích nhanh số lượng lớn hình ảnh. Nó cũng có khả năng phát hiện các khuyết tật trong cả hình ảnh 2D và 3D.

Công cụ này hoạt động bằng cách trích xuất các tính năng đầu tiên từ hình ảnh SEM. Các tính năng này sau đó được sử dụng để đào tạo một mô hình máy học, mô hình này sau đó được sử dụng để phát hiện và phân loại các lỗi trong ảnh. Mô hình có thể phát hiện nhiều loại khuyết tật, bao gồm khoảng trống, vết nứt và các dị thường khác. Công cụ này cũng cung cấp thông tin chi tiết về từng khuyết tật, chẳng hạn như kích thước và hình dạng của nó.

SEMI-PointRend đã được thử nghiệm trên nhiều loại thiết bị bán dẫn khác nhau và đã được chứng minh là có độ chính xác cao. Nó cũng có thể phát hiện các khuyết tật mà mắt thường không nhìn thấy được, khiến nó trở thành một công cụ vô giá cho các nhà sản xuất chất bán dẫn.

Nhìn chung, SEMI-PointRend là một công cụ mạnh mẽ để phân tích các khuyết tật bán dẫn trong ảnh SEM. Nó nhanh, chính xác và có thể phát hiện nhiều loại lỗi. Điều này làm cho nó trở thành một công cụ vô giá cho các nhà sản xuất chất bán dẫn, những người cần đảm bảo rằng thiết bị của họ hoạt động bình thường.

Dấu thời gian:

Thêm từ Chất bán dẫn / Web3