SoC test challenges arise due to the complexity and diversity of the functional blocks integrated into the chip. As SoCs become more complex, it becomes increasingly difficult to access all of the functional blocks within the chip for testing. SoCs also can contain billions of transistors, making it extremely time-consuming to test chips. As test time directly impacts test cost, minimizing test time is critical to managing the cost of a finished product. Automatic Test Pattern Generator (ATPG) is a crucial part of SoC testing, as it generates test patterns to detect faults in the design. However, the automation of ATPG is a challenging task, especially for complex SoCs, due to the large number of functional blocks and test points that need to be covered. Developing efficient and effective ATPG algorithms is a key challenge for SoC testing. But many of the ATPG tools today are not fully automated. Users have to learn all the commands and the options offered by the tools in order to use them effectively.
Is there a solution that brings some automation to the ATPG process, thereby enhancing engineering productivity? What if this solution also delivers significant savings in test time? Siemens EDA’s Tessent Streaming Scan Network (SSN) solution promises to deliver these benefits. This was substantiated by Intel, one of Siemens EDA’s customers during the recent User2User conference. Intel’s Toai Vo presented proof points based on his team’s experience with their first design using Tessent SSN solution. His team included Kevin Li, Joe Chou and Chienkuo (Tom) Woo.
Tessent SSN Solution
In a standard scan testing approach, test data is loaded into the circuit one bit at a time and shifted through the scan chains to observe the output responses. This process is repeated for each test pattern, which can be time-consuming and can lead to long test times. But the Tessent SSN solution packetizes test data to dramatically reduce DFT implementation effort and reduce manufacturing test times. By decoupling core-level and chip-level DFT requirements, each core can be designed with the most optimal compression configuration for that core. This solution can be used to efficiently test large and complex chips that have a high number of internal nodes that need to be tested. It uses a dedicated network to transmit test data in a streaming manner, enabling parallel processing of the data and thereby reducing test time.
масштабованість
The Streaming Scan Network supports scalable scan architectures that can handle SoCs with a large number of functional blocks. The tool provides scalable approach of testing any number of cores concurrently while minimizing test time and scan data volume. Tessent SSN test infrastructure is built around the IEEE 1687/IJTAG standard for delivering greater flexibility and scalability to handle more complex designs and test scenarios.
Автоматизація
The hierarchical object oriented nature of the test infrastructure lends itself for easier automation. Using Tessent infrastructure, a user can easily insert test logic into a chip. The process begins with the RTL design, where the SSN test logic is inserted using automation.
Test Time Savings
Using a traditional ATPG approach, normally only block can be run at a time which extends total test time. With the Tessent SSN ATPG approach, multiple blocks can be run in parallel, thereby greatly reducing the total test time. The following table shows the test time savings achieved by Toai’s team on their design.
Підсумки
Toai’s team found it very easy to migrate from a traditional embedded deterministic testing (EDT) channel based ATPG to a packet-based ATPG with SSN. The Tessent SSN solution greatly reduced engineering effort and silicon bring up time. And the test time reduction was significant compared to a traditional solution for testing. In Toai Vo’s words, it is absolutely an innovative test solution and it really works.
Докладніше visit the Tessent SSN product page.
Також читайте:
Досягнення оптимального PPA під час розміщення та доведення його до підтвердження
Пом’якшення впливу поширення помилок DFE на високошвидкісні канали SerDes
Корінь довіри до обладнання для автомобільної безпеки
Поділитися цим дописом через:
- Розповсюдження контенту та PR на основі SEO. Отримайте посилення сьогодні.
- PlatoAiStream. Web3 Data Intelligence. Розширення знань. Доступ тут.
- Карбування майбутнього з Адріенн Ешлі. Доступ тут.
- Купуйте та продавайте акції компаній, які вийшли на IPO, за допомогою PREIPO®. Доступ тут.
- джерело: https://semiwiki.com/eda/328395-tessent-ssn-enables-significant-test-time-savings-for-soc-atpg/
- :є
- : ні
- :де
- $UP
- a
- абсолютно
- доступ
- досягнутий
- алгоритми
- ВСІ
- Також
- an
- та
- будь-який
- підхід
- ЕСТЬ
- навколо
- AS
- At
- Автоматизований
- автоматичний
- Автоматизація
- автомобільний
- заснований
- BE
- ставати
- стає
- Переваги
- мільярди
- Біт
- Блокувати
- блоки
- приносити
- Приносить
- побудований
- але
- by
- CAN
- проведення
- ланцюга
- виклик
- проблеми
- складні
- Канал
- чіп
- Чіпси
- порівняний
- комплекс
- складність
- конференція
- конфігурація
- Core
- Коштувати
- покритий
- критичний
- вирішальне значення
- Клієнти
- дані
- присвячених
- доставляти
- надання
- постачає
- дизайн
- призначений
- конструкцій
- деталі
- розвивається
- важкий
- безпосередньо
- різноманітність
- різко
- два
- під час
- кожен
- легше
- легко
- легко
- Ефективний
- фактично
- ефекти
- ефективний
- продуктивно
- зусилля
- вбудований
- дозволяє
- дозволяє
- Машинобудування
- підвищення
- помилка
- особливо
- досвід
- надзвичайно
- недоліки
- Перший
- Гнучкість
- потік
- після
- для
- знайдений
- від
- повністю
- функціональний
- генерує
- покоління
- generator
- великий
- значно
- обробляти
- Мати
- Високий
- його
- Однак
- HTTPS
- IEEE
- if
- Вплив
- реалізація
- in
- включені
- все більше і більше
- Інфраструктура
- інноваційний
- інтегрований
- Intel
- внутрішній
- в
- IT
- сам
- ключ
- великий
- вести
- УЧИТЬСЯ
- рівень
- логіка
- Довго
- Робить
- управління
- манера
- виробництво
- багато
- макс-ширина
- мігрувати
- мінімізація
- більше
- найбільш
- множинний
- природа
- Необхідність
- мережу
- вузли
- нормально
- номер
- об'єкт
- спостерігати
- of
- запропонований
- on
- ONE
- тільки
- оптимальний
- Опції
- порядок
- вихід
- сторінка
- Паралельні
- частина
- Викрійки
- моделі
- plato
- Інформація про дані Платона
- PlatoData
- точок
- пошта
- представлений
- процес
- обробка
- Product
- продуктивність
- обіцяє
- доказ
- забезпечує
- Читати
- насправді
- останній
- зменшити
- Знижений
- зниження
- скорочення
- повторний
- Вимога
- відповіді
- корінь
- прогін
- Економія
- масштабованість
- масштабовані
- сканування
- сценарії
- зміщений
- Шоу
- Сіменс
- значний
- Кремній
- рішення
- деякі
- standard
- потоковий
- Опори
- таблиця
- Завдання
- команда
- тест
- Тестування
- Що
- Команда
- їх
- Їх
- Там.
- тим самим
- Ці
- це
- через
- час
- трудомісткий
- times
- до
- сьогодні
- інструмент
- інструменти
- Усього:
- традиційний
- передавати
- Довіряйте
- використання
- використовуваний
- користувач
- користувачі
- використання
- дуже
- через
- обсяг
- було
- Що
- який
- в той час як
- з
- в
- свататися
- слова
- працює
- зефірнет