Keşif, Elektronik Cihazların Ömrünün Uzatılmasına Yardımcı Olabilir: Araştırma, Elektronik Cihazların Daha İyi Dayanıklılıkla Tasarlanmasına Yol Açabilir

Plato tarafından yeniden yayınlandı

İzleyiciler: 0

Ana Sayfa > Basın > Keşif, elektronik cihazların ömrünün uzatılmasına yardımcı olabilir: Araştırma, elektronik cihazların daha iyi dayanıklılıkla tasarlanmasına yol açabilir

Elektron mikroskobu görüntüleri bozulmayı eylem halinde göstermektedir. KREDİ Sidney Üniversitesi

Özet:
Ferroelektrik malzemeler; hafızalar, kapasitörler, aktüatörler ve sensörler dahil olmak üzere birçok cihazda kullanılmaktadır. Bu cihazlar, bilgisayarlar, tıbbi ultrason ekipmanları ve su altı sonarları gibi hem tüketici hem de endüstriyel cihazlarda yaygın olarak kullanılmaktadır.

Keşif, elektronik cihazların ömrünü uzatmaya yardımcı olabilir: Araştırma, elektronik cihazların daha iyi bir dayanıklılıkla tasarlanmasını sağlayabilir.

Sidney, Avustralya | 9 Nisan 2021'de yayınlandı

Zamanla, ferroelektrik malzemeler tekrarlanan mekanik ve elektriksel yüklemeye maruz kalır, bu da işlevselliklerinin giderek azalmasına ve sonuçta arızaya yol açar. Bu sürece 'ferroelektrik yorulma' denir.

Bu, bir dizi elektronik cihazın arızalanmasının ana nedenidir ve atılan elektronikler e-atık oluşumuna katkıda bulunanların başında gelmektedir. Dünya çapında her yıl on milyonlarca ton arızalı elektronik cihaz çöp sahasına gidiyor.

Havacılık ve Uzay, Makine ve Mekatronik Mühendisliği Yüksekokulu araştırmacıları, gelişmiş yerinde elektron mikroskobu kullanarak, ferroelektrik yorgunluğu meydana geldiği anda gözlemleyebildi. Bu teknik, gerçek zamanlı olarak nano ölçekte ve atomik seviyelere kadar 'görmek' için gelişmiş bir mikroskop kullanır.

Araştırmacılar, Nature Communications'da yayınlanan bir makalede anlatılan bu yeni gözlemin, ferroelektrik nanocihazların gelecekteki tasarımına daha iyi bilgi sağlamaya yardımcı olacağını umuyorlar.

Sidney Üniversitesi Nano Enstitüsü'nden ortak yazar Profesör Xiaozhou Liao, "Keşfimiz, ferroelektrik bozunma sürecinin nano ölçekte nasıl mevcut olduğuna dair net bir resim gösterdiği için önemli bir bilimsel atılımdır" dedi.

Araştırmanın baş araştırmacısı Dr. Qianwei Huang şunları söyledi: "Ferroelektrik yorgunluğun elektronik cihazların ömrünü kısaltabileceği uzun zamandır bilinmesine rağmen, bunu gözlemlemek için uygun teknolojinin bulunmaması nedeniyle bunun nasıl meydana geldiği daha önce tam olarak anlaşılamamıştı. ”

Ortak yazar Dr. Zibin Chen şunları söyledi: "Bununla, daha uzun ömürlü cihazların mühendisliğini daha iyi bilgilendirmeyi umuyoruz."

Gözlemsel bulgular yeni tartışmalara yol açıyor

Nobel ödüllü Herbert Kroemer bir keresinde "Arayüz cihazdır" şeklindeki meşhur iddiasını dile getirmişti. Dolayısıyla Sidneyli araştırmacıların gözlemleri, malzemelerdeki farklı bölgeleri ayıran fiziksel sınırlar olan arayüzlerin yeni nesil cihazların güvenilmezliğine karşı geçerli bir çözüm olup olmadığı konusunda yeni bir tartışmayı ateşleyebilir.

"Keşfimiz, arayüzlerin aslında ferroelektrik bozulmayı hızlandırabileceğini gösterdi. Bu nedenle cihazlardan en iyi performansı elde etmek için bu süreçlerin daha iyi anlaşılması gerekiyor" dedi Dr. Chen.

###

BİLGİLENDİRME:

Araştırma, ferroelektrik malzemelerdeki döngüsel yorgunluğun yapısal kökeninin çözülmesi projesi için Avustralya Araştırma Konseyi tarafından desteklendi. Sidney Üniversitesi'ndeki Avustralya Mikroskopi ve Mikroanaliz Merkezi tarafından kolaylaştırılmıştır.

####

Daha fazla bilgi için lütfen tıklayın okuyun

İletişim:
Luisa Düşük
61-438-021-390

@SydneyUni_Media

Telif hakkı © Sidney Üniversitesi

Bir yorumunuz varsa, lütfen İletişim bize.

7th Wave, Inc. veya Nanotechnology Now değil, haber bültenleri yayıncıları yalnızca içeriğin doğruluğundan sorumludur.

Yer imi: