Sieć skanowania strumieniowego Tessent wprowadza hierarchiczny test skanowania w współczesność

Pamiętasz, kiedy aby coś wydrukować, trzeba było korzystać z Internetu przez modem lub równoległych kabli do drukarki podłączonych bezpośrednio do drukarki? Cóż, nawet jeśli nie pamiętasz tych rzeczy, wiesz, że teraz jest lepszy sposób. Niestety, powszechne metody stosowane w hierarchicznym projektowaniu do testów (DFT) nadal wyglądają podobnie – DFT na poziomie SoC nie nadąża za skalowaniem projektu. Na szczęście firma Siemens EDA opracowała zupełnie nową metodologię łączenia skanowania na poziomie rdzenia z poziomem najwyższym. Przyznajmy, że skanowanie hierarchiczne było ogromnym krokiem naprzód. Jednak dostęp do rdzeni zawsze odbywał się metodami przypominającymi pomieszczenie pełne operatorów telefonicznych indywidualnie realizujących połączenia.

Firma Siemens opublikowała artykuł zatytułowany „Tessent Streaming Scan Network: Bezkompromisowe podejście do DFT”, który jasno przedstawia problemy typowe dla wdrożenia pełnego testu chipa przy użyciu skanowania na poziomie rdzenia i połączeń pin-mux. W artykule opisano podejście Streaming Scan Network (SSN), które opracowano w celu rozwiązania tych problemów. Korzystając ze starej techniki pin-mux, projektanci chipów muszą z góry zaplanować, jak efektywnie wykorzystać ograniczoną liczbę pinów na poziomie chipa, aby ułatwić testowanie. Krytyczne decyzje muszą zostać podjęte na wczesnym etapie projektowania i trudno je zmienić w późniejszym etapie rozwoju. Nawet równoległe uruchamianie identycznych bloków napotyka ograniczenia. Należy od razu podjąć decyzję o tym, które zestawy identycznych bloków można uruchamiać równolegle. Pipelining do każdego bloku musi się zgadzać, a wyniki muszą wracać seryjnie itd. Nawet tutaj nie ma darmowego lunchu. W przypadku większości innych typów bloków jest równie brudno.

Aby podkreślić ograniczenia podejścia pin-mux, w artykule firmy Siemens omówiono kilka innych problemów. Autobusy przewodowe muszą mieć odpowiednią szerokość i muszą być wytyczone z wyprzedzeniem, aby przewidzieć, jak będą później kursowane. Gałęzie posiadające bloki z krótszymi łańcuchami skanowania spowodują marnowanie przepustowości. Samo trasowanie może być problematyczne, zwłaszcza gdy połączenia typu block to block w chipie wykonywane są wyłącznie z oparciem.

Tessent SSN rozwiązuje problemy związane ze skanowaniem pin-mux, jednocześnie zwiększając elastyczność i czyniąc operacje testowe wymiernie wydajniejszymi. Każdy rdzeń jest wyposażony w hosta skanowania strumieniowego (SSH), który działa jak lokalny inteligentny kontroler. Każdy SSH ma dwa połączenia zewnętrzne – interfejs IJTAG 1687 do koordynowania działań testowych oraz równoległą magistralę danych SSN. Magistrala SSN, choć równoległa, jest niezależna od liczby i rozmiaru skanowanych rdzeni. Dane skanowania są wysyłane w pakietach. Dane skanowania dla każdego bloku docelowego są całkowicie wyodrębniane z pakietów SSN, które można mieszać i przenosić dane skanowania o dowolnej szerokości. W rezultacie sieć SSN może działać z pełną wydajnością i rozpakowywać zeskanowane dane tam, gdzie są one wykorzystywane do połączenia z wewnętrznym łańcuchem skanowania rdzenia.

Równoległe testowanie identycznych bloków jest łatwe dzięki równoległemu dostarczaniu pakietów skanowania, niezależnie od lokalizacji w sieci SSN. Testy można uruchamiać równolegle, a lokalne sprawdzanie wyników może zmienić bit pozytywny/negatywny dla każdej instancji. Magistrala może również pomóc w dostosowaniu się do wolniejszych częstotliwości przesunięcia wewnętrznego, wysyłając szybsze, węższe pakiety, aby zachować synchronizację z tymi blokami. Posiadanie pakietowej inteligentnej sieci do przenoszenia danych ze skanowania i testów w dowolne miejsce na chipie oznacza, że ​​strategie testowania można dostosować do specyfiki projektu, nawet po przerwaniu taśmy.

Artykuł zawiera znacznie więcej szczegółów na temat specyfiki i zalet sieci Siemens Streaming Scan Network. Z pewnością przenosi technologię DFT z ery modemów i równoległych kabli do drukarek w nowoczesną erę drukarek szerokopasmowych i sieciowych. Pełny artykuł jest dostępny na stronie internetowej firmy Siemens wraz z pełnymi informacjami o produkcie w witrynie Streaming Scan Network.

Udostępnij ten post przez: Źródło: https://semiwiki.com/eda/304815-tessent-streaming-scan-network-brings-hierarchical-scan-test-into-the-modern-age/