電子機器の寿命を延ばすのに役立つ発見: この研究は、より耐久性の高い電子機器の設計につながる可能性がある

プラトン再発行

フォロワー： 0

ホーム > イベント > この発見は電子機器の寿命を延ばすのに役立つ可能性がある：この研究は、耐久性を向上させた電子機器の設計につながる可能性がある

電子顕微鏡画像は、実際の分解を示します。クレジットシドニー大学

要約：
強誘電体材料は、メモリ、コンデンサ、アクチュエータ、センサーなどの多くのデバイスで使用されています。これらのデバイスは、コンピュータ、医療用超音波装置、水中ソナーなどの民生用機器と産業用機器の両方で一般的に使用されています。

発見は電子機器の寿命を延ばすのに役立つ可能性があります：研究はより良い耐久性で設計された電子機器につながる可能性があります

シドニー、オーストラリア |投稿日: 9 年 2021 月 XNUMX 日

時間の経過とともに、強誘電体材料は繰り返しの機械的および電気的負荷にさらされるため、その機能が徐々に低下し、最終的には故障につながります。このプロセスは「強誘電体疲労」と呼ばれます。

これはさまざまな電子機器の故障の主な原因であり、廃棄された電子機器は電子機器廃棄物の主な原因となっています。世界中で毎年、何千万トンもの故障した電子機器が埋め立て処分されています。

航空宇宙学部、機械工学部、メカトロニクス工学部の研究者は、最先端の現場電子顕微鏡を使用して、強誘電体疲労が発生する様子を観察することができました。この技術では、高度な顕微鏡を使用して、ナノスケールおよび原子レベルまでリアルタイムで「見る」ことができます。

研究者らは、Nature Communications誌に掲載された論文に記載されているこの新たな観察が、強誘電体ナノデバイスの将来の設計に役立つ情報となることを期待している。

「私たちの発見は、強誘電体の劣化プロセスがナノスケールでどのように存在するのかを明確に示しているため、重要な科学的進歩です」と、共著者で同じくシドニー大学ナノ研究所のXiaozhou Liao教授は述べた。

この研究の主任研究員であるQianwei Huang博士は次のように述べています。「強誘電体疲労が電子デバイスの寿命を縮める可能性があることは長い間知られていましたが、それを観察するための適切な技術が不足しているため、これがどのように起こるのかはこれまでよく理解されていませんでした。」」

共著者の Zibin Chen 博士は、「これにより、より長寿命のデバイスのエンジニアリングに役立つ情報を提供できることを期待しています。」と述べています。

観察結果が新たな議論を引き起こす

ノーベル賞受賞者のハーバート・クレーマーはかつて「インターフェースはデバイスである」と主張したことは有名です。したがって、シドニーの研究者らによる観察は、界面（材料内の異なる領域を隔てる物理的境界）が次世代デバイスの信頼性の低さに対する実行可能な解決策であるかどうかについて、新たな議論を引き起こす可能性がある。

「私たちの発見は、界面が実際に強誘電体の劣化を早める可能性があることを示しました。したがって、デバイスの最高のパフォーマンスを達成するには、これらのプロセスをより深く理解する必要があります」とチェン博士は述べました。

###

開示：

この研究は、オーストラリア研究評議会の「強誘電体材料における周期疲労の構造的起源を解明する」プロジェクトによって支援されました。この研究は、シドニー大学のオーストラリア顕微鏡・微量分析センターによって推進されました。

####

詳細については、クリックしてください。こちら

コンタクト：
ルイーザ・ロウ
61-438-021

@シドニーユニメディア

著作権 © シドニー大学

コメントがあればお願いしますお問い合わせ私達。

7th Wave、Inc.やNanotechnology Nowではなく、ニュースリリースの発行者は、コンテンツの正確性について単独で責任を負います。

ブックマーク：