3D IC-k a feltörekvő technológiákban: Consumer Electronics, ML és AI Forrás klaszter: Einfo Chips Forrás csomópont: 805033Időbélyeg: 31. augusztus 2020.
Elrendezés versus sematikus (LVS) folyamat és hibakeresés az ASIC fizikai ellenőrzésben Forrás klaszter: Einfo Chips Forrás csomópont: 805035Időbélyeg: 30. július 2020.
eInfochips értékelemzés és értéktervezés Forrás klaszter: Einfo Chips Forrás csomópont: 805037Időbélyeg: 28. július 2020.
Az eltolási teljesítménycsökkentési módszerek és a tesztelhetőség hatékonysága az ASIC-ben Forrás klaszter: Einfo Chips Forrás csomópont: 805039Időbélyeg: 27. július 2020.
Az ismétlődő neurális hálózatok (RNN) ismerete Forrás klaszter: Einfo Chips Forrás csomópont: 805041Időbélyeg: 24. július 2020.
Antennaeffektus-sértések és megoldásaik a 16 nm-es technológiai csomópontok tervezésében Forrás klaszter: Einfo Chips Forrás csomópont: 817718Időbélyeg: 24. július 2020.
Sign Off the Chip (ASIC) tervezési kihívások és megoldások a Cutting Edge Technology-nál Forrás klaszter: Einfo Chips Forrás csomópont: 817720Időbélyeg: 16. július 2020.
5G drónok – Eye In The Sky – Segít a COVID-19 elleni küzdelemben Forrás klaszter: Einfo Chips Forrás csomópont: 817722Időbélyeg: May 18, 2020
IP-szintű tesztesetek létrehozása, amelyek SoC szinten újra felhasználhatók Forrás klaszter: Einfo Chips Forrás csomópont: 817724Időbélyeg: 20. január 2020.
7 A DFT Flow for IoT Device Design programban figyelembe veendő eszközök Forrás klaszter: Einfo Chips Forrás csomópont: 817726Időbélyeg: 7. november 2019.