Pticografía orbital local para imágenes de ultra alta resolución – Nature Nanotechnology

Williams, DB y Carter, CB Microscopio de transmisión por electrones (Primavera, 2009).

Haider, M. y col. Un microscopio electrónico de transmisión de 200 kV con corrección de aberración esférica. ultramicroscopía 75, 53 – 60 (1998).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Chen, Z. et al. La pticografía electrónica alcanza los límites de resolución atómica establecidos por las vibraciones de la red. Ciencia: 372, 826 – 831 (2021).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Hoppe, W. Beugung im inhomogenen Primärstrahlwellenfeld. I. Prinzip einer Phasenmessung von Elektronenbeungungsinterferenzen. Acta Crystallogr. A 25, 495 – 501 (1969).

Artículo 

Google Scholar 

Miao, J., Charalambous, P., Kirz, J. & Sayre, D. Ampliación de la metodología de la cristalografía de rayos X para permitir la obtención de imágenes de muestras no cristalinas del tamaño de un micrómetro. Naturaleza 400, 342 – 344 (1999).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Rodenburg, JM Pticografía y métodos de imágenes difractivas relacionados. Adv. Física electrónica de imágenes. 150, 87 – 184 (2008).

Artículo 

Google Scholar 

Zheng, G., Shen, C., Jiang, S., Song, P. y Yang, C. Concepto, implementaciones y aplicaciones de la pticografía de Fourier. Nat. Rev. Phys. 3, 207 – 223 (2021).

Artículo 

Google Scholar 

Pfeiffer, F. Pticografía de rayos X. Nat. Fotónica 12, 9 – 17 (2017).

Artículo 

Google Scholar 

Nellist, PD, McCallum, BC y Rodenburg, JM Resolución más allá del 'límite de información' en microscopía electrónica de transmisión. Naturaleza 374, 630 – 632 (1995).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Maiden, AM, Humphry, MJ, Zhang, F. y Rodenburg, JM Imágenes de superresolución mediante pticografía. J. Opt. Soc. Soy. A 28, 604 – 612 (2011).

Artículo 

Google Scholar 

Humphry, MJ, Kraus, B., Hurst, AC, Maiden, AM y Rodenburg, JM Microscopía electrónica ptográfica que utiliza dispersión de campo oscuro de alto ángulo para obtener imágenes con resolución subnanométrica. Nat. Comun. 3, 730 (2012).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Pelz, PM, Qiu, WX, Bucker, R., Kassier, G. & Miller, RJD Pticografía crioelectrónica de dosis baja mediante optimización bayesiana no convexa. Sci. Reps. 7, 9883 (2017).

Artículo 

Google Scholar 

Ophus, C. Microscopía electrónica de transmisión de barrido en cuatro dimensiones (4D-STEM): desde la nanodifracción de barrido hasta la pticografía y más allá. microsc. Microanal. 25, 563 – 582 (2019).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Ding, Z. y col. Pticografía electrónica tridimensional de nanoestructuras híbridas orgánico-inorgánicas. Nat. Comun. 13, 4787 (2022).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Gao, W. y col. Imágenes de densidad de carga en el espacio real con resolución subangstrom mediante microscopía electrónica de cuatro dimensiones. Naturaleza 575, 480 – 484 (2019).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Kohno, Y., Seki, T., Findlay, SD, Ikuhara, Y. & Shibata, N. Visualización en espacio real de campos magnéticos intrínsecos de un antiferromagnético. Naturaleza 602, 234 – 239 (2022).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Zachman, MJ y cols. Mapeo de distorsiones de la red a escala pm y medición de separaciones entre capas en materiales 2D apilados mediante 4D-STEM interferométrico. microsc. Microanal. 28, 1752 – 1754 (2022).

Artículo 

Google Scholar 

Rodenburg, JM & Bates, RHT La teoría de la microscopía electrónica de súper resolución a través de la deconvolución de distribución de Wigner. Fil. Trans. R. Soc. largo A 339, 521 – 553 (1997).

Google Scholar 

McCallum, BC y Rodenburg, JM Demostración bidimensional de la microscopía de recuperación de fase de Wigner en la configuración STEM. ultramicroscopía 45, 371 – 380 (1992).

Artículo 

Google Scholar 

Chapman, HN Microscopía de rayos X de recuperación de fase mediante deconvolución de distribución de Wigner. ultramicroscopía 66, 153 – 172 (1996).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Pennycook, TJ, Martinez, GT, Nellist, PD & Meyer, JC Imágenes de resolución atómica de alta eficiencia de dosis mediante pticografía electrónica. ultramicroscopía 196, 131 – 135 (2019).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

O'Leary, CM et al. Reconstrucción de fase utilizando datos STEM 4D binarios rápidos. Appl. Phys. Letón. 116, 124101 (2020).

Artículo 

Google Scholar 

Gao, C. y col. Superar las inversiones de contraste en la pticografía de sonda enfocada de materiales gruesos: un canal óptimo para determinar de manera eficiente la estructura atómica local en la ciencia de materiales. Appl. Phys. Letón. 121, 081906 (2022).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Elser, V. Recuperación de fase mediante proyecciones iteradas. J. Opt. Soc. Soy. A 20, 40 – 55 (2003).

Artículo 

Google Scholar 

Rodenburg, JM & Faulkner, HML Un algoritmo de recuperación de fase para iluminación cambiante. Appl. Phys. Letón. 85, 4795 – 4797 (2004).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Thibault, P. et al. Microscopía de difracción de rayos X de barrido de alta resolución. Ciencia: 321, 379 – 382 (2008).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Maiden, AM & Rodenburg, JM Un algoritmo mejorado de recuperación de fase ptychographical para imágenes difractivas. ultramicroscopía 109, 1256 – 1262 (2009).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Maiden, AM, Humphry, MJ & Rodenburg, JM Microscopía de transmisión ptográfica en tres dimensiones utilizando un enfoque de cortes múltiples. J. Opt. Soc. Soy. A 29, 1606 – 1614 (2012).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Sha, H., Cui, J. & Yu, R. Imágenes de resolución subangstrom profunda mediante pticografía electrónica con corrección de desorientación. ciencia Adv. 8, eabn2275 (2022).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Sha, H. y col. Mediciones pticográficas de diferentes tamaños y formas a lo largo de canales de zeolita. ciencia Adv. 9, eadf1151 (2023).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Sha, H. y col. Mapeo a escala subnanométrica de la orientación de los cristales y la estructura dependiente de la profundidad de los núcleos de dislocación en SrTiO₃. Nat. Comun. 14, 162 (2023).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Dong, Z. y col. Imágenes a nivel atómico de estructuras locales de zeolita mediante pticografía electrónica. Mermelada. Chem. Soc. 145, 6628 – 6632 (2023).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Zhang, H. y col. Falta de homogeneidad tridimensional de la estructura y composición de la zeolita revelada por pticografía electrónica. Ciencia: 380, 633 – 663 (2023).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Cowley, JM y Moodie, AF La dispersión de electrones por átomos y cristales. I. Un nuevo enfoque teórico. Acta Crystallogr. 10, 609 – 619 (1957).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Allen, LJ, Alfonso, AJD y Findlay, SD Modelado de la dispersión inelástica de electrones rápidos. ultramicroscopía 151, 11 – 22 (2015).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Ostrcil, M. et al. Imágenes difractivas coherentes psicográficas con relajación de sonda ortogonal. Optar. Rápido 24, 8360 – 8369 (2016).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Das, S. y col. Observación de skyrmions polares a temperatura ambiente. Naturaleza 568, 368 – 372 (2019).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Veličkov, B., Kahlenberg, V., Bertram, R. y Bernhagen, M. Química cristalina de GdScO₃, DyScO₃, SmScO₃ y NdScO₃. Z. Kristallogr. 222, 466 – 473 (2007).

Artículo 

Google Scholar 

Lee, D. y col. Aparición de ferroelectricidad a temperatura ambiente en dimensiones reducidas. Ciencia: 349, 1314 – 1317 (2015).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Gao, P. y col. Mecanismo atómico de reconstrucción de superficies controlada por polarización en películas delgadas ferroeléctricas. Nat. Comun. 7, 11318 (2016).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Kirkland E.J. Computación Avanzada en Microscopía Electrónica (Primavera, 2020).

Jurling, AS & Fienup, JR Aplicaciones de diferenciación algorítmica a algoritmos de recuperación de fases. J. Opt. Soc. Soy. A 31, 1348 – 1359 (2014).

Artículo 

Google Scholar 

Odstrcil, M., Menzel, A. y Guizar-Sicairos, M. Solucionador iterativo de mínimos cuadrados para ptychography de máxima verosimilitud generalizada. Optar. Rápido 26, 3108 – 3123 (2018).

Artículo 

Google Scholar 

Pelz, PM et al. Imágenes de contraste de fase de objetos extendidos de dispersión múltiple con resolución atómica mediante reconstrucción de la matriz de dispersión. física Res. Rev. 3, 023159 (2021).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Uhlemann, S. & Haider, M. Aberraciones de ondas residuales en el primer microscopio electrónico de transmisión con corrección de aberración esférica. ultramicroscopía 72, 109 – 119 (1998).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Krivanek, OL, Dellby, N. y Lupini, AR Hacia haces de electrones sub-Å. ultramicroscopía 78, 1 – 11 (1999).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Schwiegerling, J. Revisión de los polinomios de Zernike y su uso para describir el impacto de la desalineación en sistemas ópticos. En Proc. Alineación, tolerancia y verificación del sistema óptico XI (eds Sasián, J. & Youngworth, RN) 103770D (SPIE, 2017); https://doi.org/10.1117/12.2275378

Bertoni, G. y col. Diagnóstico casi en tiempo real de aberraciones de fase óptica electrónica en microscopía electrónica de transmisión de barrido utilizando una red neuronal artificial. ultramicroscopía 245, 113663 (2023).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Paszke, A. et al. PyTorch: una biblioteca de aprendizaje profundo de alto rendimiento y estilo imperativo. En Proc. 33a Conferencia Internacional sobre Sistemas de Procesamiento de Información Neuronal (eds Wallach, HM, Larochelle, H., Beygelzimer, A., d'Alché-Buc, F. & Fox, EB) 721 (Curran Associates, 2019).

Burdet, N. y col. Evaluación de la corrección de coherencia parcial en pticografía radiológica. Optar. Rápido 23, 5452 – 5467 (2015).

Artículo 
CAS 

Google Scholar 

Nellist, PD & Rodenburg, JM Más allá del límite de información convencional: la función de coherencia relevante. ultramicroscopía 54, 61 – 74 (1994).

Artículo 

Google Scholar 

Yang, W., Sha, H. y Yu, R. Conjuntos de datos 4D utilizados para la reconstrucción pticográfica de orbitales locales [conjunto de datos]. Zenodo https://doi.org/10.5281/zenodo.10246206 (2023).