SEMI-PointRend: Покращений аналіз дефектів напівпровідників у SEM-зображеннях

Перевидано Платоном

читають: 0

У світі виробництва напівпровідників дефекти можуть мати величезний вплив на продуктивність пристрою. Таким чином, важливо мати можливість точно виявляти та аналізувати ці дефекти, щоб переконатися, що пристрій функціонує належним чином. SEMI-PointRend — це новий інструмент, який був розроблений, щоб допомогти з цим завданням.

SEMI-PointRend — це вдосконалений інструмент аналізу дефектів напівпровідників на зображеннях скануючого електронного мікроскопа (SEM). Він використовує алгоритми машинного навчання для виявлення та класифікації дефектів у SEM-зображеннях. Інструмент створений як швидкий і точний, що дозволяє швидко аналізувати велику кількість зображень. Він також здатний виявляти дефекти як у 2D, так і в 3D зображеннях.

Інструмент працює, спочатку витягуючи функції із зображень SEM. Потім ці функції використовуються для навчання моделі машинного навчання, яка потім використовується для виявлення та класифікації дефектів у зображеннях. Модель здатна виявляти широкий спектр дефектів, включаючи порожнечі, тріщини та інші аномалії. Інструмент також надає детальну інформацію про кожен дефект, наприклад його розмір і форму.

SEMI-PointRend було протестовано на різних типах напівпровідникових пристроїв і було визнано дуже точним. Він також здатний виявляти дефекти, які можуть бути невидимі неозброєним оком, що робить його безцінним інструментом для виробників напівпровідників.

Загалом SEMI-PointRend є потужним інструментом для аналізу напівпровідникових дефектів на SEM-зображеннях. Він швидкий, точний і здатний виявляти широкий спектр дефектів. Це робить його безцінним інструментом для виробників напівпровідників, яким потрібно переконатися, що їхні пристрої функціонують належним чином.