SEMI-PointRend: досягнення більш точного та детального аналізу дефектів напівпровідників у SEM-зображеннях

Мітка часу: 10 березня 2023 7:21
Вихідний вузол: 2005960

Дефекти напівпровідників є основною проблемою для електронної промисловості. Здатність точно й надійно виявляти та аналізувати ці дефекти є важливою для забезпечення якості та надійності продукції. SEMI-PointRend — це нова технологія, яка дозволяє точніше та детальніше аналізувати дефекти напівпровідників на SEM-зображеннях.

SEMI-PointRend — це алгоритм на основі машинного навчання, який використовує поєднання методів обробки зображень і глибокого навчання для точного виявлення й аналізу дефектів напівпровідників на SEM-зображеннях. Алгоритм призначений для ідентифікації та класифікації дефектів на основі їх розміру, форми та розташування. Він також може виявляти тонкі відмінності між різними типами дефектів, що дозволяє проводити більш точний і детальний аналіз.

Алгоритм працює, спочатку витягуючи ознаки із SEM-зображень. Потім ці функції використовуються для навчання моделі глибокого навчання, яка може точно виявляти та класифікувати дефекти. Потім модель використовується для аналізу SEM-зображень і виявлення будь-яких наявних дефектів. Результати потім використовуються для створення детального звіту, який містить список виявлених дефектів, їх розмір, форму та розташування.

SEMI-PointRend є важливим інструментом для електронної промисловості, оскільки він дозволяє точніше та детальніше аналізувати дефекти напівпровідників на SEM-зображеннях. Ця технологія може допомогти підвищити якість і надійність продукції, надаючи точнішу інформацію про дефекти, наявні в напівпровідникових пристроях. Крім того, це може допомогти зменшити витрати, пов’язані з виявленням і аналізом дефектів, а також підвищити ефективність процесу.

Часова мітка:

Більше від Напівпровідник / Web3