Nanotechnology Now - Pressmeddelande: Focused Ion Beam Technology: Ett enda verktyg för ett brett spektrum av applikationer

Återutgiven av Platon

anhängare: 0

Hem > Presse > Fokuserad jonstråleteknik: Ett enda verktyg för ett brett spektrum av applikationer

Fysikern Gregor Hlawacek, chef för EU-projektet FIT4NANO, är ansvarig för en toppmodern anläggning vid HZDR där han kan producera och analysera nanostrukturer med hjälp av en särskilt finfokuserad jonstråle.

KREDITERA
Oliver Killig/HZDR

Physicist Gregor Hlawacek, head of the EU project FIT4NANO, is responsible for a state-of-the-art facility at the HZDR where he can produce and analyze nanostructures using a particularly finely focused ion beam.

KREDITERA
Oliver Killig/HZDR

Sammanfattning:
Bearbeta material i nanoskala, producera prototyper för mikroelektronik eller analysera biologiska prover: Användningsområdet för finfokuserade jonstrålar är enormt. Experter från EU-samarbetet FIT4NANO har nu sett över de många alternativen och tagit fram en färdplan för framtiden. Artikeln, publicerad i "Applied Physics Review" (DOI: 10.1063/5.0162597), riktar sig till studenter, användare från industri och vetenskap samt beslutsfattare inom forskning.

Fokuserad jonstråleteknik: Ett enda verktyg för ett brett spektrum av applikationer

Dresden, Tyskland | Postat den 12 januari 2024

”Vi insåg att fokuserade jonstrålar kan användas på många olika sätt och vi trodde att vi hade en bra överblick i början av projektet. Men så upptäckte vi att det finns många fler ansökningar än vi trodde. I många publikationer nämns inte ens användningen av fokuserade jonstrålar uttryckligen, utan döljs i metodavsnittet. Det var detektivarbete”, säger Dr Katja Höflich, fysiker vid Ferdinand-Braun-Institut och Helmholtz-Zentrum Berlin (HZB), som samordnade den omfattande rapporten. ”Särskilt hittade vi ett arbete från 1960- och 1970-talen som var före sin tid och orättvist glömt. Än idag ger de viktiga insikter”.

Rapporten ger en översikt över det aktuella tillståndet för fokuserad jonstråleteknik (FIB), dess tillämpningar med många exempel, den viktigaste utrustningsutvecklingen och framtidsutsikter. "Vi ville tillhandahålla ett referensverk som är användbart för akademisk forskning och industriella FoU-avdelningar, men som också hjälper forskningsledning att hitta sin väg inom detta område", säger Dr Gregor Hlawacek, gruppledare vid Institutet för jonstrålefysik och materialforskning vid Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf (HZDR). Hlawacek leder FIT4NANO-projektet, ett EU-projekt om FIB-teknologier, där författarna till rapporten är involverade.

Från grundforskning till färdig komponent

FIB-instrument använder en fokuserad jonstråle på typiskt två till 30 kiloelektronvolt (keV). Med sin lilla diameter i nanometer- och sub-nanometerintervallet, skannar en sådan jonstråle provet och kan ändra dess yta med nanometerprecision. FIB-instrument är ett universellt verktyg för analys, masklös lokal materialmodifiering och snabb prototypframställning av mikroelektroniska komponenter. De första FIB-instrumenten användes inom halvledarindustrin för att korrigera fotomasker med fokuserade galliumjoner. Idag finns FIB-instrument med många olika typer av joner. En viktig tillämpning är beredningen av prover för högupplöst, nanometerprecisionsavbildning i elektronmikroskopet. FIB-metoder har även använts inom biovetenskapen, till exempel för att analysera och avbilda mikroorganismer och virus med FIB-baserad tomografi, vilket ger djupa insikter i mikroskopiska strukturer och deras funktion.

FIB-instrument utvecklas ständigt mot andra energier, tyngre joner och nya förmågor, såsom den rumsligt lösta genereringen av enstaka atomdefekter i annars perfekta kristaller. Sådan FIB-bearbetning av material och komponenter har enorm potential inom kvant- och informationsteknologi. Utbudet av applikationer, från grundforskning till den färdiga enheten, från fysik, materialvetenskap och kemi till biovetenskap och till och med arkeologi, är helt unik. "Vi hoppas att den här färdplanen kommer att inspirera till vetenskapliga och tekniska genombrott och fungera som en inkubator för framtida utveckling", säger Gregor Hlawacek.

####

För mer information, klicka på här.

Kontaktpersoner:
Media Kontakt

Simon Schmitt
Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf
Kontor: 351-260-3400
Expertkontakter

Dr Gregor Hlawacek
Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf
Kontor: ++49 351 260 3409
Dr Katja Höflich
Ferdinand-Braun-Institut och Helmholtz-Zentrum Berlin (HZB)

Om du har en kommentar, snälla Kontakta oss oss.

Emittenter av nyhetsmeddelanden, inte 7th Wave, Inc. eller Nanotechnology Now, är ensamma ansvariga för innehållets noggrannhet.

Bokmärke: