Tessent Streaming Scan Network tar med hierarkiskt skanningstest in i den moderna tidsåldern

Kommer du ihåg när du var tvungen att använda uppringt internet eller parallella skrivarkablar anslutna direkt till skrivaren för att skriva ut något? Även om du inte kommer ihåg dessa saker, vet du att det nu finns ett bättre sätt. Tyvärr ser de vanliga metoderna som används för hierarkisk design för test (DFT) fortfarande ut så här – SoC-nivå DFT har inte hängt med i designskalning. Lyckligtvis har Siemens EDA utvecklat en helt ny metod för att koppla scanning på kärnnivå till toppnivån. Låt oss erkänna att hierarkisk genomsökning var ett stort steg framåt. Men att komma åt kärnorna har alltid gjorts med metoder som ser ut som ett rum fullt av telefonoperatörer som individuellt kopplar samtal.

Siemens har publicerat en artikel med titeln "Tessent Streaming Scan Network: A no-compromise approach to DFT" som tydligt beskriver problemen med att implementera fullständiga chiptest med hjälp av core level scan och pin-mux-anslutningar. Artikeln beskriver tillvägagångssättet Streaming Scan Network (SSN) som de har utvecklat för att ta itu med dessa problem. Med den gamla pin-mux-tekniken måste chipdesigners planera i förväg hur de effektivt ska använda ett begränsat antal chip-nivåstift för att underlätta testning. Kritiska beslut måste fattas tidigt i designfasen och är svåra att ändra senare i utvecklingen. Även att köra identiska block parallellt stöter på begränsningar. Beslut i förväg måste fattas om vilka uppsättningar av identiska block som kan köras parallellt. Pipelining till varje block måste matcha, och resultaten måste komma tillbaka i serie, etc. Även här finns det ingen gratis lunch. För de flesta andra typer av block är det lika rörigt.

För att belysa begränsningarna med pin-mux-metoden diskuterar Siemens-artikeln flera andra problem. Trådbundna bussar måste ha rätt bredd och måste dirigeras i förväg i väntan på hur mönstren kommer att köras senare. Grenar som har block med kortare skanningskedjor kommer att lämna bort bandbredd. Själva routingen kan vara problematisk, speciellt när block-till-block-anslutningar i chippet endast görs med distans.

Tessent SSN löser problemen med pin-mux scan-metoden, samtidigt som den tillför flexibilitet och gör testoperationerna mätbart mer effektiva. Varje kärna är utrustad med en Streaming Scan Host (SSH) som fungerar som en lokal intelligent styrenhet. Varje SSH har två externa anslutningar – ett IJTAG 1687-gränssnitt för koordinering av testaktiviteter och den parallella SSN-databussen. Även om SSN-bussen är parallell, är den oberoende av antalet eller storleken på de skannade kärnorna. Skanningsdata skickas i paket. Avsökningsdata för varje målblock är helt abstraherat från SSN-paketen, som kan blandas och bära avsökningsdata av vilken bredd som helst. Resultatet är att SSN:n kan arbeta med full kapacitet och packa upp skanningsdata där den används för att samverka med kärnans interna avsökningskedja.

Parallelltestning av identiska block görs enkelt med skanna paketleverans parallellt, oavsett var på SSN:et. Tester kan köras parallellt och lokal resultatkontroll kan vända en godkänd/underkänd bit för varje instans. Bussen kan också hjälpa till att justera för långsammare interna skiftfrekvenser genom att skicka snabbare paket som är smalare för att hållas synkroniserade med dessa block. Att ha ett paketerat smart nätverk för att flytta skannings- och testdata var som helst på chippet innebär att teststrategier kan anpassas till designens detaljer, även efter tapeout.

Artikeln ger mycket mer information om detaljerna och fördelarna med Siemens Streaming Scan Network. Det flyttar verkligen DFT från modemens och parallella skrivarkablars tidsålder till den moderna tidsåldern av bredbands- och nätverksskrivare. Hela artikeln finns tillgänglig på Siemens webbplats tillsammans med fullständig produktinformation om Streaming Scan Network.

Dela det här inlägget via: Källa: https://semiwiki.com/eda/304815-tessent-streaming-scan-network-brings-hierarchical-scan-test-into-the-modern-age/