Tessent Streaming Scan Network brengt hiërarchische scantest naar de moderne tijd

Weet je nog dat je inbelinternet of parallelle printerkabels moest gebruiken die rechtstreeks op de printer waren aangesloten om iets af te drukken? Zelfs als je je deze dingen niet herinnert, weet je dat er nu een betere manier is. Helaas zien de gangbare methoden die worden gebruikt voor hiërarchisch Design for Test (DFT) er nog steeds ongeveer zo uit: DFT op SoC-niveau heeft de schaalvergroting van het ontwerp niet bijgehouden. Gelukkig heeft Siemens EDA een geheel nieuwe methodologie ontwikkeld om scan op kernniveau te verbinden met het hoogste niveau. Laten we erkennen dat hiërarchische scan een enorme stap voorwaarts was. Maar toegang tot de kernen is altijd gedaan met methoden die eruit zien als een kamer vol telefonisten die individueel gesprekken doorverbinden.

Siemens heeft een artikel gepubliceerd met de titel "Tessent Streaming Scan Network: A no-compromise approach to DFT" waarin duidelijk de problemen worden uiteengezet die inherent zijn aan het implementeren van een volledige chiptest met behulp van scan op core-niveau en pin-mux-verbindingen. De paper beschrijft de Streaming Scan Network (SSN)-benadering die zij hebben ontwikkeld om deze problemen aan te pakken. Met behulp van de oude pin-mux-techniek moeten chipontwerpers van tevoren plannen hoe ze efficiënt een beperkt aantal pinnen op chipniveau kunnen gebruiken om testen te vergemakkelijken. Kritische beslissingen moeten vroeg in de ontwerpfase worden genomen en zijn later in de ontwikkeling moeilijk te veranderen. Zelfs het parallel laten lopen van identieke blokken stuit op beperkingen. Er moeten vooraf beslissingen worden genomen over welke sets van identieke blokken parallel kunnen worden uitgevoerd. Pipelining naar elk blok moet overeenkomen, en de resultaten moeten serieel terugkomen, enz. Zelfs hier is er geen gratis lunch. Voor de meeste andere soorten blokken is het net zo rommelig.

Om de beperkingen van de pin-mux-benadering te benadrukken, bespreekt de Siemens-paper verschillende andere problemen. Bedrade bussen moeten de juiste breedte hebben en moeten van tevoren worden gerouteerd in afwachting van hoe patronen later zullen worden uitgevoerd. Vertakkingen met blokken met kortere scanketens zullen bandbreedte verspillen. De routing zelf kan problematisch zijn, vooral wanneer blok-tot-blokverbindingen in de chip alleen met abutment worden gemaakt.

Tessent SSN lost de problemen met de pin-mux-scanbenadering op, terwijl het tegelijkertijd flexibiliteit toevoegt en testoperaties meetbaar efficiënter maakt. Elke kern is uitgerust met een Streaming Scan Host (SSH) die fungeert als een lokale intelligente controller. Elke SSH heeft twee externe aansluitingen: een IJTAG 1687-interface voor het coördineren van testactiviteiten en de parallelle SSN-databus. Hoewel de SSN-bus parallel is, is deze onafhankelijk van het aantal of de grootte van de gescande kernen. Scangegevens worden in pakketjes verzonden. De scangegevens voor elk doelblok zijn volledig geabstraheerd van de SSN-pakketten, die kunnen worden vermengd en scangegevens van elke breedte kunnen bevatten. Het resultaat is dat de SSN op volle capaciteit kan werken en de scangegevens kan uitpakken waar deze worden gebruikt om te communiceren met de interne scanketen van de kern.

Het parallel testen van identieke blokken wordt eenvoudig gemaakt door het parallel afleveren van scanpakketten, ongeacht de locatie op het SSN. Tests kunnen parallel worden uitgevoerd en lokale resultaatcontrole kan voor elke instantie een pass/fail-bit omdraaien. De bus kan ook helpen bij het aanpassen aan langzamere interne verschuivingsfrequenties door snellere pakketten te verzenden die smaller zijn om synchroon te blijven met deze blokken. Het hebben van een slim netwerk in pakketten om scan- en testgegevens overal op de chip te verplaatsen, betekent dat teststrategieën zich kunnen aanpassen aan de specifieke kenmerken van het ontwerp, zelfs na tape-out.

Het artikel biedt veel meer details over de details en voordelen van Siemens Streaming Scan Network. Het verplaatst DFT zeker van het tijdperk van modems en parallelle printerkabels naar het moderne tijdperk van breedband- en netwerkprinters. Het volledige artikel is beschikbaar op de Siemens-website, samen met volledige productinformatie op Streaming Scan Network.

Deel dit bericht via: Bron: https://semiwiki.com/eda/304815-tessent-streaming-scan-network-brings-hierarchical-scan-test-into-the-modern-age/