اکتشاف می تواند به افزایش طول عمر دستگاه های الکترونیکی کمک کند: تحقیقات می تواند منجر به طراحی الکترونیک با استقامت بهتر شود

بازنشر افلاطون

دنبال: 0

صفحه اصلی > رسانه ها و مطبوعات > کشف می تواند به افزایش طول عمر دستگاه های الکترونیکی کمک کند: این تحقیق می تواند منجر به طراحی الکترونیک با استقامت بهتر شود.

تصاویر میکروسکوپ الکترونی تخریب را در عمل نشان می دهد. CREDIT دانشگاه سیدنی

چکیده:
مواد فروالکتریک در بسیاری از دستگاه ها از جمله حافظه ها، خازن ها، محرک ها و حسگرها استفاده می شود. این دستگاه ها معمولاً در ابزار مصرفی و صنعتی مانند رایانه ها، تجهیزات سونوگرافی پزشکی و سونارهای زیر آب استفاده می شوند.

اکتشاف می تواند به افزایش طول عمر دستگاه های الکترونیکی کمک کند: این تحقیق می تواند منجر به طراحی الکترونیک با استقامت بهتر شود.

سیدنی، استرالیا | ارسال شده در 9 آوریل 2021

Over time, ferroelectric materials are subjected to repeated mechanical and electrical loading, leading to a progressive decrease in their functionality, ultimately resulting in failure. This process is referred to as ‘ferroelectric fatigue’.

این یکی از دلایل اصلی خرابی طیف وسیعی از دستگاه های الکترونیکی است، با وسایل الکترونیکی دور ریخته شده یکی از عوامل اصلی تولید زباله های الکترونیکی است. در سطح جهان، سالانه ده‌ها میلیون تن دستگاه‌های الکترونیکی خراب به محل دفن زباله می‌روند.

Using advanced in-situ electron microscopy, the School of Aerospace, Mechanical and Mechatronic Engineering researchers were able to observe ferroelectric fatigue as it occurred. This technique uses an advanced microscope to ‘see’, in real-time, down to the nanoscale and atomic levels.

محققان امیدوارند این مشاهدات جدید که در مقاله منتشر شده در Nature Communications شرح داده شده است، به اطلاع رسانی بهتر در مورد طراحی آینده نانودستگاه های فروالکتریک کمک کند.

“Our discovery is a significant scientific breakthrough as it shows a clear picture of how the ferroelectric degradation process is present at the nanoscale,” said co-author Professor Xiaozhou Liao, also from the University of Sydney Nano Institute.

Dr Qianwei Huang, the study’s lead researcher, said: “Although it has long been known that ferroelectric fatigue can shorten the lifespan of electronic devices, how it occurs has previously not been well understood, due to a lack of suitable technology to observe it.”

Co-author Dr Zibin Chen said: “With this, we hope to better inform the engineering of devices with longer lifespans.”

یافته های رصدی بحث های جدیدی را برانگیخت

Nobel laureate Herbert Kroemer once famously asserted “The interface is the device”. The observations by the Sydney researchers could therefore spark a new debate on whether interfaces – which are physical boundaries separating different regions in materials – are a viable solution to the unreliability of next-generation devices.

“Our discovery has indicated that interfaces could actually speed up ferroelectric degradation. Therefore, better understanding of these processes is needed to achieve the best performance of devices,” Dr Chen said.

###

کشف:

این تحقیق توسط شورای تحقیقات استرالیا برای پروژه کشف منشأ ساختاری خستگی چرخه ای در مواد فروالکتریک حمایت شد. این توسط مرکز استرالیایی میکروسکوپی و میکروآنالیز در دانشگاه سیدنی تسهیل شد.

####

برای اطلاعات بیشتر، لطفا کلیک کنید اینجا کلیک نمایید

تماس با ما:
لویزا لو
61-438-021-390

@SydneyUni_Media

حق چاپ © دانشگاه سیدنی

اگر نظری دارید بفرمایید تماس با ما ما.

مسئولیت صحت محتوا به عهده صادرکنندگان انتشارات خبری است، نه موج هفتم، شرکت یا نانوتکنولوژی اکنون.

نشانک: