Η ανακάλυψη θα μπορούσε να βοηθήσει στη επιμήκυνση της διάρκειας ζωής των ηλεκτρονικών συσκευών: Η έρευνα θα μπορούσε να οδηγήσει στη σχεδίαση ηλεκτρονικών με καλύτερη αντοχή

Αναδημοσίευση από τον Πλάτωνα

Ακολουθούν: 0

Αρχική > Τύπος > Το Discovery θα μπορούσε να βοηθήσει στην επιμήκυνση της διάρκειας ζωής των ηλεκτρονικών συσκευών: Η έρευνα θα μπορούσε να οδηγήσει στο σχεδιασμό ηλεκτρονικών συσκευών με καλύτερη αντοχή

Οι εικόνες με ηλεκτρονικό μικροσκόπιο δείχνουν την υποβάθμιση σε δράση. CREDIT University of Sydney

Περίληψη:
Τα σιδηροηλεκτρικά υλικά χρησιμοποιούνται σε πολλές συσκευές, όπως μνήμες, πυκνωτές, ενεργοποιητές και αισθητήρες. Αυτές οι συσκευές χρησιμοποιούνται συνήθως τόσο σε καταναλωτικά όσο και σε βιομηχανικά όργανα, όπως υπολογιστές, ιατρικό εξοπλισμό υπερήχων και υποβρύχια σόναρ.

Η ανακάλυψη θα μπορούσε να βοηθήσει στην επιμήκυνση της διάρκειας ζωής των ηλεκτρονικών συσκευών: Η έρευνα θα μπορούσε να οδηγήσει στο σχεδιασμό ηλεκτρονικών με καλύτερη αντοχή

Σίδνεϊ, Αυστραλία | Δημοσιεύτηκε στις 9 Απριλίου 2021

Over time, ferroelectric materials are subjected to repeated mechanical and electrical loading, leading to a progressive decrease in their functionality, ultimately resulting in failure. This process is referred to as ‘ferroelectric fatigue’.

Είναι η κύρια αιτία της αστοχίας μιας σειράς ηλεκτρονικών συσκευών, με τα απορριπτόμενα ηλεκτρονικά είδη να πρωταγωνιστούν στα ηλεκτρονικά απόβλητα. Παγκοσμίως, δεκάδες εκατομμύρια τόνοι αποτυχημένων ηλεκτρονικών συσκευών πηγαίνουν σε χώρους υγειονομικής ταφής κάθε χρόνο.

Using advanced in-situ electron microscopy, the School of Aerospace, Mechanical and Mechatronic Engineering researchers were able to observe ferroelectric fatigue as it occurred. This technique uses an advanced microscope to ‘see’, in real-time, down to the nanoscale and atomic levels.

Οι ερευνητές ελπίζουν ότι αυτή η νέα παρατήρηση, που περιγράφεται σε μια εργασία που δημοσιεύτηκε στο Nature Communications, θα βοηθήσει στην καλύτερη ενημέρωση του μελλοντικού σχεδιασμού των σιδηροηλεκτρικών νανοσυσκευών.

“Our discovery is a significant scientific breakthrough as it shows a clear picture of how the ferroelectric degradation process is present at the nanoscale,” said co-author Professor Xiaozhou Liao, also from the University of Sydney Nano Institute.

Dr Qianwei Huang, the study’s lead researcher, said: “Although it has long been known that ferroelectric fatigue can shorten the lifespan of electronic devices, how it occurs has previously not been well understood, due to a lack of suitable technology to observe it.”

Co-author Dr Zibin Chen said: “With this, we hope to better inform the engineering of devices with longer lifespans.”

Τα ευρήματα της παρατήρησης πυροδοτούν νέες συζητήσεις

Nobel laureate Herbert Kroemer once famously asserted “The interface is the device”. The observations by the Sydney researchers could therefore spark a new debate on whether interfaces – which are physical boundaries separating different regions in materials – are a viable solution to the unreliability of next-generation devices.

“Our discovery has indicated that interfaces could actually speed up ferroelectric degradation. Therefore, better understanding of these processes is needed to achieve the best performance of devices,” Dr Chen said.

###

ΑΠΟΚΑΛΥΨΗ:

Η έρευνα υποστηρίχθηκε από το Αυστραλιανό Ερευνητικό Συμβούλιο για το έργο «Αποκάλυψη της δομικής προέλευσης της κυκλικής κόπωσης στα σιδηροηλεκτρικά υλικά». Διευκολύνθηκε από το Αυστραλιανό Κέντρο Μικροσκοπίας & Μικροανάλυσης στο Πανεπιστήμιο του Σίδνεϊ.

####

Για περισσότερες πληροφορίες, πατήστε εδώ

Επαφές:
Λουίζα Λόου
61-438-021-390

@SydneyUni_Media

Πνευματικά δικαιώματα © University of Sydney

Εάν έχετε ένα σχόλιο, παρακαλώ Επικοινωνία και εμείς με χαρά θα σας εξυπηρετήσουμε.

Οι εκδότες δελτίων ειδήσεων, όχι η 7th Wave, Inc. ή η Nanotechnology Now, είναι αποκλειστικά υπεύθυνες για την ακρίβεια του περιεχομένου.

Bookmark: