在半导体制造领域，缺陷会对设备的性能产生巨大影响。因此，能够准确检测和分析这些缺陷以确保设备正常运行非常重要。 SEMI-PointRend 是为帮助完成此任务而开发的新工具。
SEMI-PointRend 是一种改进的扫描电子显微镜 (SEM) 图像半导体缺陷分析工具。它使用机器学习算法来检测 SEM 图像中的缺陷并对其进行分类。该工具设计快速、准确，可以快速分析大量图像。它还能够检测 2D 和 3D 图像中的缺陷。
该工具的工作原理是首先从 SEM 图像中提取特征。然后使用这些特征来训练机器学习模型，然后使用该模型来检测和分类图像中的缺陷。该模型能够检测各种缺陷，包括空隙、裂纹和其他异常。该工具还提供有关每个缺陷的详细信息，例如其大小和形状。
SEMI-PointRend 已在各种不同类型的半导体器件上进行了测试，结果显示其准确性很高。它还能够检测肉眼无法看到的缺陷，这使其成为半导体制造商的宝贵工具。
总体而言，SEMI-PointRend 是分析 SEM 图像中半导体缺陷的强大工具。它快速、准确，能够检测各种缺陷。这使得它成为需要确保其设备正常运行的半导体制造商的宝贵工具。
