SEMI-PointRend: SEM Görüntülerinde Yarı İletken Kusurlarının Daha Doğru ve Ayrıntılı Analizini Elde Etme

Zaman Damgası: 10 Mart 2023 7:21
Kaynak Düğüm: 2005960

Yarı iletken kusurları elektronik endüstrisi için büyük bir endişe kaynağıdır. Bu kusurları doğru ve güvenilir bir şekilde tespit etme ve analiz etme yeteneği, ürün kalitesi ve güvenilirliğini sağlamak için çok önemlidir. SEMI-PointRend, SEM görüntülerindeki yarı iletken kusurlarının daha doğru ve ayrıntılı analizini sağlayan yeni bir teknolojidir.

SEMI-PointRend, SEM görüntülerindeki yarı iletken kusurlarını doğru bir şekilde tespit etmek ve analiz etmek için görüntü işleme ve derin öğrenme tekniklerinin bir kombinasyonunu kullanan, makine öğrenimi tabanlı bir algoritmadır. Algoritma kusurları boyutlarına, şekillerine ve konumlarına göre tanımlamak ve sınıflandırmak için tasarlanmıştır. Ayrıca, farklı kusur türleri arasındaki ince farkları da tespit ederek daha doğru ve ayrıntılı analizlere olanak tanır.

Algoritma öncelikle SEM görüntülerinden özelliklerin çıkarılmasıyla çalışır. Bu özellikler daha sonra kusurları doğru bir şekilde tespit edip sınıflandırabilen bir derin öğrenme modelini eğitmek için kullanılır. Model daha sonra SEM görüntülerini analiz etmek ve mevcut kusurları belirlemek için kullanılır. Sonuçlar daha sonra tespit edilen kusurların, boyutlarının, şekillerinin ve konumlarının bir listesini içeren ayrıntılı bir rapor oluşturmak için kullanılır.

SEMI-PointRend, SEM görüntülerindeki yarı iletken kusurlarının daha doğru ve ayrıntılı analizini sağladığından elektronik endüstrisi için önemli bir araçtır. Bu teknoloji, yarı iletken cihazlarda mevcut kusurlar hakkında daha doğru bilgiler sağlayarak ürün kalitesini ve güvenilirliğini artırmaya yardımcı olabilir. Ek olarak, kusur tespiti ve analiziyle ilgili maliyetlerin azaltılmasına ve sürecin verimliliğinin artırılmasına yardımcı olabilir.

Zaman Damgası:

Den fazla Yarı iletken / Web3