SEMI-PointRend: SEM Görüntülerinde Yarı İletken Kusurlarının Daha Doğru ve Ayrıntılı Analizi

Zaman Damgası: 10 Mart 2023 7:21
Kaynak Düğüm: 2007275

Yarı iletken kusurları elektronik cihazların performansı üzerinde büyük bir etkiye sahip olabilir. Bu kusurların doğru ve hızlı bir şekilde tespit edilmesini sağlamak için araştırmacılar SEMI-PointRend adı verilen yeni bir yöntem geliştirdiler. Bu yöntem, taramalı elektron mikroskobu (SEM) görüntülerindeki yarı iletken kusurlarını tespit etmek ve analiz etmek için makine öğrenimi ve görüntü işleme tekniklerinin bir kombinasyonunu kullanır.

SEMI-PointRend sistemi, farklı türdeki yarı iletken kusurları tanımak ve sınıflandırmak için eğitilmiş bir derin öğrenme modeline dayanmaktadır. Model, çeşitli kusur türlerini içeren geniş bir SEM görüntü veri kümesi kullanılarak eğitilir. Model eğitildikten sonra yeni görüntülerdeki kusurları tespit etmek ve sınıflandırmak için kullanılabilir. Sistem ayrıca görüntülerdeki kusurları tespit etmek ve analiz etmek için kullanılan bir görüntü işleme bileşenini de içerir.

SEMI-PointRend sisteminin, yarı iletken kusurlarını tespit etmek ve analiz etmek için geleneksel yöntemlere göre birçok avantajı vardır. Birincisi, kusurları daha kesin bir şekilde tespit edip sınıflandırabildiği için geleneksel yöntemlere göre daha doğrudur. İkincisi, görüntüleri gerçek zamanlı olarak işleyebildiği için geleneksel yöntemlerden daha hızlıdır. Son olarak kusurların boyutu, şekli ve konumu hakkında detaylı bilgi verebildiğinden geleneksel yöntemlere göre daha detaylıdır.

Genel olarak SEMI-PointRend sistemi, SEM görüntülerindeki yarı iletken kusurlarını doğru ve hızlı bir şekilde tespit etmek ve analiz etmek için güçlü bir araçtır. Bu sistem, mühendislerin cihazlarındaki olası sorunları daha hızlı ve verimli bir şekilde tespit edip çözmelerine yardımcı olarak performansın ve güvenilirliğin artmasını sağlar.

Zaman Damgası:

Den fazla Yarı iletken / Web3