ererSEMI-PointRenderer Kullanarak SEM Görüntülerindeki Yarı İletken Hatalarının Geliştirilmiş Analizi

Zaman Damgası: 10 Mart 2023 7:21
Kaynak Düğüm: 2006951

Yarı iletken kusurları elektronik bileşenlerin üretiminde önemli bir faktördür. Kusurlar performansın düşmesine, maliyetlerin artmasına ve hatta ürün arızasına yol açabilir. Bu nedenle, nihai ürünün kalitesini sağlamak için yarı iletken kusurlarını doğru bir şekilde tespit etmek ve analiz etmek önemlidir.

Yarı iletken kusurlarını analiz etmenin bir yolu, taramalı elektron mikroskobu (SEM) görüntülerinin kullanılmasıdır. SEM görüntüleri, yarı iletken bir cihazın yüzeyinin ayrıntılı bir görünümünü sağlayarak kusurların tespit edilmesine ve analiz edilmesine olanak tanır. Ancak SEM görüntülerini analiz etmenin geleneksel yöntemleri zaman alıcı ve emek yoğundur.

Bu sorunu çözmek için araştırmacılar SEMI-PointRenderer adı verilen yeni bir yöntem geliştirdiler. Bu yöntem, SEM görüntülerindeki yarı iletken kusurlarını otomatik olarak tespit etmek ve analiz etmek için bilgisayarlı görme ve makine öğrenimi tekniklerinin bir kombinasyonunu kullanır. Sistem çatlaklar, boşluklar ve diğer anormallikler gibi farklı türdeki kusurları tanımlayabilmektedir. Ayrıca kusurların boyutu ve şeklinin yanı sıra bunların cihaz yüzeyindeki konumu da ölçülebilir.

SEMI-PointRenderer kullanımının, geleneksel yöntemlere kıyasla hata analizinin doğruluğunu ve hızını arttırdığı gösterilmiştir. Bu, kalite kontrolün iyileştirilmesine ve yarı iletken üretimiyle ilgili maliyetlerin azalmasına yol açabilir. Ek olarak sistem, bir ürün piyasaya sürülmeden önce potansiyel arıza kaynaklarını tespit etmek için kullanılabilir ve böylece proaktif düzeltici önlemlerin alınmasına olanak sağlanır.

Genel olarak SEMI-PointRenderer, SEM görüntülerindeki yarı iletken kusurlarını analiz etmek için etkili ve doğru bir yol sağlar. Üreticiler bu sistemi kullanarak ürünlerinin kalitesini artırabilir ve üretimle ilgili maliyetleri azaltabilir.

Zaman Damgası:

Den fazla Yarı iletken / Web3