SEMI-PointRend: เพิ่มความแม่นยำและรายละเอียดของการวิเคราะห์ข้อบกพร่องของเซมิคอนดักเตอร์ในอิมเมจ SEM
การวิเคราะห์ข้อบกพร่องของเซมิคอนดักเตอร์เป็นกระบวนการสำคัญในการรับรองคุณภาพของอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ ดังนั้นจึงเป็นเรื่องสำคัญที่จะต้องมีการวิเคราะห์ข้อบกพร่องที่มีอยู่ในอุปกรณ์อย่างถูกต้องและละเอียด SEMI-PointRend เป็นเทคโนโลยีใหม่ที่ออกแบบมาเพื่อเพิ่มความแม่นยำและรายละเอียดของการวิเคราะห์ข้อบกพร่องของเซมิคอนดักเตอร์ในภาพ SEM SEMI-PointRend เป็นโซลูชันที่ใช้ซอฟต์แวร์ซึ่งใช้อัลกอริธึมการเรียนรู้ของเครื่องเพื่อวิเคราะห์ภาพ SEM สามารถตรวจจับและจำแนกข้อบกพร่องในภาพได้อย่างแม่นยำและมีรายละเอียดสูง ซอฟต์แวร์ใช้การผสมผสานระหว่างการเรียนรู้เชิงลึก