Tessent Streaming Scan Network prinaša hierarhični test skeniranja v moderno dobo

Se spomnite, ko ste za tiskanje morali uporabiti klicni internet ali vzporedne kable za tiskalnik, povezane neposredno s tiskalnikom? Tudi če se teh stvari ne spomnite, veste, da zdaj obstaja boljši način. Na žalost prevladujoče metode, ki se uporabljajo za hierarhično načrtovanje za testiranje (DFT), še vedno izgledajo takole – DFT na ravni SoC ni sledil skaliranju načrta. Na srečo je Siemens EDA razvil popolnoma novo metodologijo za povezovanje skeniranja osnovne ravni z najvišjo ravnjo. Priznajmo si, da je bil hierarhični pregled velik korak naprej. Toda dostop do jeder se je vedno izvajal z metodami, ki so videti kot soba, polna telefonskih operaterjev, ki posamezno povezujejo klice.

Siemens je objavil članek z naslovom »Omrežje pretočnega skeniranja Tessent: Brezkompromisni pristop k DFT«, v katerem so jasno predstavljene težave, značilne za izvajanje celotnega testa čipov z uporabo skeniranja na ravni jedra in povezav pin-mux. Članek opisuje pristop Streaming Scan Network (SSN), ki so ga razvili za reševanje teh težav. Z uporabo stare tehnike pin-mux morajo načrtovalci čipov vnaprej načrtovati, kako učinkovito uporabiti omejeno število pinov na ravni čipa, da olajšajo testiranje. Kritične odločitve je treba sprejeti zgodaj v fazi načrtovanja in jih je pozneje v razvoju težko spremeniti. Celo vzporedno izvajanje enakih blokov naleti na omejitve. Vnaprej je treba sprejeti odločitve o tem, kateri sklopi enakih blokov se lahko izvajajo vzporedno. Cevovodna povezava do vsakega bloka se mora ujemati, rezultati pa se morajo vrniti serijsko itd. Tudi tukaj ni brezplačnega kosila. Za večino drugih vrst blokov je enako grdo.

Da bi poudarili omejitve pristopa pin-mux, Siemensov dokument obravnava več drugih problemov. Žična vodila morajo biti ustrezne širine in jih je treba napeljati vnaprej v pričakovanju, kako se bodo vzorci izvajali pozneje. Podružnice, ki imajo bloke s krajšimi verigami skeniranja, bodo zapravile pasovno širino. Samo usmerjanje je lahko problematično, še posebej, če so povezave med bloki v čipu narejene samo z opornikom.

Tessent SSN rešuje težave s pristopom skeniranja pin-mux, hkrati pa dodaja prilagodljivost in naredi testne operacije merljivo učinkovitejše. Vsako jedro je opremljeno z gostiteljem pretočnega skeniranja (SSH), ki deluje kot lokalni inteligentni krmilnik. Vsak SSH ima dve zunanji povezavi – vmesnik IJTAG 1687 za usklajevanje testnih dejavnosti in vzporedno podatkovno vodilo SSN. Čeprav je vodilo SSN vzporedno, ni odvisno od števila ali velikosti skeniranih jeder. Podatki skeniranja se pošiljajo v paketih. Podatki skeniranja za vsak ciljni blok so popolnoma izvzeti iz paketov SSN, ki jih je mogoče mešati in prenašati podatke skeniranja poljubne širine. Rezultat tega je, da lahko SSN deluje s polno zmogljivostjo in odvije podatke skeniranja, kjer se uporablja za vmesnik z notranjo verigo skeniranja jedra.

Vzporedno testiranje identičnih blokov je poenostavljeno z vzporedno dostavo paketov skeniranja, ne glede na lokacijo na SSN. Teste je mogoče izvajati vzporedno, lokalno preverjanje rezultatov pa lahko obrne bit uspešnosti/neuspeha za vsak primerek. Vodilo lahko tudi pomaga prilagoditi počasnejše frekvence notranjega premika s pošiljanjem hitrejših paketov, ki so ožji, da ostanejo sinhronizirani s temi bloki. Paketirano pametno omrežje za premikanje skeniranih in testnih podatkov kamor koli na čipu pomeni, da se lahko testne strategije prilagodijo posebnostim zasnove, tudi po traku.

Članek ponuja veliko več podrobnosti o posebnostih in prednostih Siemens Streaming Scan Network. Vsekakor premakne DFT iz dobe modemov in vzporednih tiskalniških kablov v moderno dobo širokopasovnih in omrežnih tiskalnikov. Celoten članek je na voljo na spletnem mestu Siemens skupaj s celotnimi informacijami o izdelku na Streaming Scan Network.

Delite to objavo prek: Vir: https://semiwiki.com/eda/304815-tessent-streaming-scan-network-brings-hierarchical-scan-test-into-the-modern-age/