SEMI-PointRend: Doseganje izboljšane točnosti in natančnosti pri analizi napak polprevodnikov iz slik SEM

Izvorno vozlišče: 2007654

V industriji polprevodnikov je analiza napak pomemben del proizvodnega procesa. Napake lahko povzročijo znatne težave v kakovosti končnega izdelka in lahko povzročijo draga popravila ali zamenjave. Za zagotovitev hitrega odkrivanja in odpravljanja napak je pomembno, da imamo točna in natančna orodja za analizo napak. Eno takšnih orodij je SEMI-PointRend, programska rešitev, zasnovana za izboljšanje točnosti in natančnosti analize napak polprevodnikov iz slik z vrstičnim elektronskim mikroskopom (SEM).

SEMI-PointRend je programski paket, ki uporablja kombinacijo strojnega učenja in algoritmov za obdelavo slik za odkrivanje in razvrščanje napak na slikah SEM. Za prepoznavanje in razvrščanje napak uporablja pristop, ki temelji na globokem učenju, kar mu omogoča doseganje večje točnosti in natančnosti kot tradicionalne metode. Programska oprema vključuje tudi uporabniku prijazen vmesnik, ki uporabnikom omogoča hitro in preprosto analizo slik SEM.

Programska oprema je zasnovana za uporabo v povezavi z vrstičnim elektronskim mikroskopom (SEM). SEM se uporablja za zajemanje visokoločljivih slik polprevodniškega materiala, ki jih nato analizira SEMI-PointRend. Programska oprema uporablja napredne algoritme za prepoznavanje in razvrščanje napak na slikah, kar uporabnikom zagotavlja podrobne informacije o napakah. Te informacije se nato lahko uporabijo za določitev vzroka okvare in korektivne ukrepe.

Pokazalo se je, da SEMI-PointRend izboljša točnost in natančnost analize napak iz slik SEM. To lahko vodi do izboljšanega nadzora kakovosti v industriji polprevodnikov, kar zmanjša stroške, povezane s popravili ali zamenjavami zaradi neodkritih napak. Poleg tega uporabniku prijazen vmesnik programske opreme olajša uporabo, kar uporabnikom omogoča hitro analizo slik SEM in korektivne ukrepe.

Na splošno je SEMI-PointRend učinkovito orodje za izboljšanje točnosti in natančnosti analize napak polprevodnikov iz slik SEM. Pristop programske opreme, ki temelji na globokem učenju, ji omogoča odkrivanje in razvrščanje napak z višjo natančnostjo in natančnostjo kot tradicionalne metode, kar vodi k izboljšanemu nadzoru kakovosti v industriji polprevodnikov. Poleg tega uporabniku prijazen vmesnik olajša uporabo, kar uporabnikom omogoča hitro analizo slik SEM in korektivne ukrepe.

Časovni žig:

Več od Polprevodnik / Web3