erer Izboljšana analiza napak polprevodnikov v slikah SEM z uporabo SEMI-PointRenderer

Časovni žig: 10. marec 2023 7:21
Izvorno vozlišče: 2006951

Polprevodniške napake so pomemben dejavnik pri proizvodnji elektronskih komponent. Napake lahko povzročijo zmanjšano zmogljivost, povečane stroške in celo okvaro izdelka. Kot tako je pomembno natančno zaznati in analizirati polprevodniške napake, da se zagotovi kakovost končnega izdelka.

Eden od načinov za analizo polprevodniških napak je uporaba slik z vrstično elektronsko mikroskopijo (SEM). Slike SEM zagotavljajo podroben pogled na površino polprevodniške naprave, kar omogoča odkrivanje in analizo napak. Vendar so tradicionalne metode analiziranja slik SEM dolgotrajne in delovno intenzivne.

Da bi rešili to težavo, so raziskovalci razvili novo metodo, imenovano SEMI-PointRenderer. Ta metoda uporablja kombinacijo računalniškega vida in tehnik strojnega učenja za samodejno zaznavanje in analizo polprevodniških napak na slikah SEM. Sistem lahko prepozna različne vrste napak, kot so razpoke, praznine in druge nepravilnosti. Izmeri lahko tudi velikost in obliko napak ter njihovo lokacijo na površini naprave.

Izkazalo se je, da uporaba SEMI-PointRenderer izboljša natančnost in hitrost analize napak v primerjavi s tradicionalnimi metodami. To lahko vodi do izboljšanega nadzora kakovosti in zmanjšanja stroškov, povezanih s proizvodnjo polprevodnikov. Poleg tega je sistem mogoče uporabiti za identifikacijo možnih virov napak, preden je izdelek izdan, kar omogoča sprejetje proaktivnih korektivnih ukrepov.

Na splošno SEMI-PointRenderer zagotavlja učinkovit in natančen način za analizo polprevodniških napak na slikah SEM. Z uporabo tega sistema lahko proizvajalci izboljšajo kakovost svojih izdelkov in zmanjšajo stroške, povezane s proizvodnjo.

Časovni žig:

Več od Polprevodnik / Web3