SEMI-PointRend: улучшенный анализ дефектов полупроводников на изображениях SEM

Переиздано Платоном

Читают: 0

В мире производства полупроводников дефекты могут оказать огромное влияние на производительность устройства. Поэтому важно уметь точно обнаруживать и анализировать эти дефекты, чтобы гарантировать правильную работу устройства. SEMI-PointRend — это новый инструмент, разработанный для решения этой задачи.

SEMI-PointRend — это улучшенный инструмент анализа дефектов полупроводников на изображениях сканирующего электронного микроскопа (SEM). Он использует алгоритмы машинного обучения для обнаружения и классификации дефектов на изображениях SEM. Инструмент спроектирован так, чтобы быть быстрым и точным, позволяя быстро анализировать большое количество изображений. Он также способен обнаруживать дефекты как в 2D, так и в 3D-изображениях.

Инструмент работает, сначала извлекая функции из изображений SEM. Эти функции затем используются для обучения модели машинного обучения, которая затем используется для обнаружения и классификации дефектов на изображениях. Модель способна обнаруживать широкий спектр дефектов, включая пустоты, трещины и другие аномалии. Инструмент также предоставляет подробную информацию о каждом дефекте, например его размер и форму.

SEMI-PointRend был протестирован на различных типах полупроводниковых устройств и оказался очень точным. Он также способен обнаруживать дефекты, которые могут быть не видны невооруженным глазом, что делает его бесценным инструментом для производителей полупроводников.

В целом, SEMI-PointRend — мощный инструмент для анализа дефектов полупроводников на изображениях СЭМ. Он быстрый, точный и способен обнаруживать широкий спектр дефектов. Это делает его бесценным инструментом для производителей полупроводников, которым необходимо обеспечить правильную работу своих устройств.