SEMI-PointRend: более точный и детальный анализ дефектов полупроводников на изображениях SEM

Переиздано Платоном

Читают: 0

Дефекты полупроводников являются серьезной проблемой для электронной промышленности. Способность точно и надежно обнаруживать и анализировать эти дефекты имеет важное значение для обеспечения качества и надежности продукции. SEMI-PointRend — это новая технология, позволяющая проводить более точный и подробный анализ дефектов полупроводников на изображениях РЭМ.

SEMI-PointRend — это алгоритм, основанный на машинном обучении, который использует комбинацию методов обработки изображений и глубокого обучения для точного обнаружения и анализа дефектов полупроводников на изображениях SEM. Алгоритм предназначен для выявления и классификации дефектов на основе их размера, формы и местоположения. Он также может обнаруживать тонкие различия между различными типами дефектов, что позволяет проводить более точный и подробный анализ.

Алгоритм работает, сначала извлекая признаки из изображений SEM. Эти функции затем используются для обучения модели глубокого обучения, которая может точно обнаруживать и классифицировать дефекты. Затем модель используется для анализа изображений SEM и выявления любых присутствующих дефектов. Затем результаты используются для создания подробного отчета, включающего список обнаруженных дефектов, их размер, форму и расположение.

SEMI-PointRend — важный инструмент для электронной промышленности, поскольку он позволяет проводить более точный и детальный анализ дефектов полупроводников на изображениях РЭМ. Эта технология может помочь улучшить качество и надежность продукции, предоставляя более точную информацию о дефектах, присутствующих в полупроводниковых устройствах. Кроме того, это может помочь снизить затраты, связанные с обнаружением и анализом дефектов, а также повысить эффективность процесса.