SEMI-PointRend: повышение точности и детализации анализа дефектов полупроводников в изображениях SEM
Анализ дефектов полупроводников является критически важным процессом для обеспечения качества полупроводниковых устройств. Поэтому важно провести точный и подробный анализ дефектов, присутствующих в устройстве. SEMI-PointRend — это новая технология, предназначенная для повышения точности и детализации анализа дефектов полупроводников на изображениях СЭМ. SEMI-PointRend — это программное решение, которое использует алгоритмы машинного обучения для анализа изображений SEM. Он может обнаруживать и классифицировать дефекты изображений с высокой точностью и детализацией. Программное обеспечение использует комбинацию глубокого обучения,