SEMI-PointRend: Obținerea unei precizii și a detaliilor sporite în analiza defectelor semiconductoarelor din imagini SEM

Analiza defectelor semiconductoarelor este o parte importantă a procesului de fabricație a circuitelor integrate. Defectele pot cauza o varietate de probleme, de la scăderea performanței până la defecțiunea completă a dispozitivului. Pentru a ne asigura că sunt produse produse de cea mai înaltă calitate, este necesar să existe o metodă fiabilă și precisă de detectare și analiză a defectelor. SEMI-PointRend este o nouă tehnologie care permite o acuratețe și detalii sporite în analiza defectelor semiconductoarelor din imaginile cu microscopul electronic de scanare (SEM).

SEMI-PointRend este un sistem de procesare a imaginilor bazat pe învățare automată care utilizează algoritmi de învățare profundă pentru a detecta și analiza defectele dispozitivelor semiconductoare. Este conceput pentru a fi utilizat cu imagini SEM, care oferă o rezoluție mai mare decât microscopia optică tradițională. Folosind algoritmi de învățare profundă, SEMI-PointRend este capabil să detecteze și să clasifice defectele cu o acuratețe și detalii mai mari decât metodele tradiționale.

Sistemul funcționează prin extragerea mai întâi de caracteristici din imaginea SEM. Aceste caracteristici sunt apoi folosite pentru a antrena un model de învățare profundă, care este apoi utilizat pentru a detecta și clasifica defectele din imagine. Modelul este antrenat folosind un set mare de date de imagini SEM cu defecte cunoscute, ceea ce îi permite să detecteze și să clasifice cu precizie defectele chiar și în imagini cu contrast scăzut sau raport semnal-zgomot scăzut.

SEMI-PointRend a fost testat pe o varietate de dispozitive semiconductoare diferite, inclusiv cipuri, wafer-uri și pachete. În toate cazurile, a fost capabil să detecteze și să clasifice defectele cu o precizie mai mare decât metodele tradiționale. În plus, sistemul a fost capabil să detecteze defecte care nu erau vizibile pentru ochiul uman, permițând o analiză mai amănunțită a defectelor.

În general, SEMI-PointRend este un instrument eficient pentru creșterea preciziei și a detaliilor în analiza defectelor semiconductoarelor din imaginile SEM. Folosind algoritmi de învățare profundă, este capabil să detecteze și să clasifice defectele cu o precizie mai mare decât metodele tradiționale, permițând o analiză mai aprofundată a defectelor. Această tehnologie poate ajuta la asigurarea faptului că sunt produse produse de cea mai înaltă calitate, ceea ce duce la îmbunătățirea performanței și a fiabilității dispozitivelor semiconductoare.

• Distribuție de conținut bazat pe SEO și PR. Amplifică-te astăzi.
• Platoblockchain. Web3 Metaverse Intelligence. Cunoștințe amplificate. Accesați Aici.
• Sursa: Inteligența datelor Platon: PlatoAiStream