SEMI-PointRend: análise aprimorada de defeitos de semicondutores em imagens de SEM

No mundo da fabricação de semicondutores, os defeitos podem ter um enorme impacto no desempenho do dispositivo. Como tal, é importante ser capaz de detectar e analisar com precisão estes defeitos, a fim de garantir que o dispositivo esteja funcionando corretamente. SEMI-PointRend é uma nova ferramenta que foi desenvolvida para auxiliar nesta tarefa.

SEMI-PointRend é uma ferramenta de análise aprimorada para defeitos de semicondutores em imagens de microscópio eletrônico de varredura (SEM). Ele usa algoritmos de aprendizado de máquina para detectar e classificar defeitos em imagens SEM. A ferramenta foi projetada para ser rápida e precisa, permitindo a análise rápida de um grande número de imagens. Também é capaz de detectar defeitos em imagens 2D e 3D.

A ferramenta funciona primeiro extraindo recursos das imagens SEM. Esses recursos são então usados ​​para treinar um modelo de aprendizado de máquina que é então usado para detectar e classificar defeitos nas imagens. O modelo é capaz de detectar uma ampla gama de defeitos, incluindo vazios, rachaduras e outras anomalias. A ferramenta também fornece informações detalhadas sobre cada defeito, como tamanho e formato.

SEMI-PointRend foi testado em uma variedade de diferentes tipos de dispositivos semicondutores e foi considerado altamente preciso. Também é capaz de detectar defeitos que podem não ser visíveis a olho nu, tornando-se uma ferramenta inestimável para fabricantes de semicondutores.

No geral, SEMI-PointRend é uma ferramenta poderosa para analisar defeitos de semicondutores em imagens SEM. É rápido, preciso e capaz de detectar uma ampla gama de defeitos. Isto o torna uma ferramenta inestimável para fabricantes de semicondutores que precisam garantir que seus dispositivos estejam funcionando corretamente.

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• Fonte: Plato Data Intelligence: PlatoAiStream