SEMI-PointRend: obtendo análises mais precisas e detalhadas de defeitos de semicondutores em imagens de SEM

Registro de data e hora: 10 de março de 2023, 7:21
Nó Fonte: 2005960

Defeitos em semicondutores são uma grande preocupação para a indústria eletrônica. A capacidade de detectar e analisar esses defeitos com precisão e confiabilidade é essencial para garantir a qualidade e a confiabilidade do produto. SEMI-PointRend é uma nova tecnologia que permite análises mais precisas e detalhadas de defeitos de semicondutores em imagens SEM.

SEMI-PointRend é um algoritmo baseado em aprendizado de máquina que usa uma combinação de processamento de imagem e técnicas de aprendizado profundo para detectar e analisar com precisão defeitos de semicondutores em imagens SEM. O algoritmo é projetado para identificar e classificar defeitos com base em seu tamanho, formato e localização. Ele também pode detectar diferenças sutis entre diferentes tipos de defeitos, permitindo análises mais precisas e detalhadas.

O algoritmo funciona primeiro extraindo características das imagens SEM. Esses recursos são então usados ​​para treinar um modelo de aprendizado profundo que pode detectar e classificar defeitos com precisão. O modelo é então usado para analisar as imagens SEM e identificar quaisquer defeitos presentes. Os resultados são então usados ​​para gerar um relatório detalhado que inclui uma lista dos defeitos detectados, seu tamanho, formato e localização.

SEMI-PointRend é uma ferramenta importante para a indústria eletrônica, pois permite análises mais precisas e detalhadas de defeitos de semicondutores em imagens SEM. Esta tecnologia pode ajudar a melhorar a qualidade e a confiabilidade do produto, fornecendo informações mais precisas sobre os defeitos presentes nos dispositivos semicondutores. Além disso, pode ajudar a reduzir custos associados à detecção e análise de defeitos, bem como melhorar a eficiência do processo.

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