Semicondutores

SEMI-PointRend: aprimorando a precisão e os detalhes da análise de defeitos de semicondutores em imagens de SEM

A análise de defeitos em semicondutores é um processo crítico para garantir a qualidade dos dispositivos semicondutores. Como tal, é importante ter uma análise precisa e detalhada dos defeitos presentes no dispositivo. SEMI-PointRend é uma nova tecnologia projetada para aprimorar a precisão e os detalhes da análise de defeitos de semicondutores em imagens SEM. SEMI-PointRend é uma solução baseada em software que usa algoritmos de aprendizado de máquina para analisar imagens SEM. Ele pode detectar e classificar defeitos nas imagens com alta precisão e detalhes. O software usa uma combinação de aprendizado profundo,

Análise de defeitos de semicondutores em imagens de SEM usando SEMI-PointRend para precisão e detalhes aprimorados

O uso do SEMI-PointRend para a análise de defeitos de semicondutores em imagens SEM é uma ferramenta poderosa que pode fornecer maior precisão e detalhes. Esta tecnologia foi desenvolvida para ajudar engenheiros e cientistas a compreender melhor a natureza dos defeitos em materiais semicondutores. Ao usar o SEMI-PointRend, engenheiros e cientistas podem identificar e analisar defeitos em imagens SEM com rapidez e precisão. SEMI-PointRend é um sistema baseado em software que usa uma combinação de algoritmos de processamento de imagem e inteligência artificial para analisar imagens SEM. Pode detectar e classificar defeitos nas imagens, como

Alcançando maior precisão e granularidade na análise de imagem SEM de defeitos de semicondutores usando SEMI-PointRend

A análise de imagens eringSEM de defeitos de semicondutores é um processo complexo que requer alta precisão e granularidade para identificar e classificar defeitos com precisão. Para enfrentar esse desafio, os pesquisadores desenvolveram uma nova técnica chamada SEMI-PointRendering. Este método usa uma combinação de aprendizado de máquina e processamento de imagem para obter maior precisão e granularidade na análise de defeitos. A técnica SEMI-PointRendering funciona primeiro segmentando as imagens SEM em regiões de interesse. Essas regiões são então analisadas usando algoritmos de aprendizado de máquina para identificar e classificar os defeitos. O algoritmo então cria um modelo 3D de

Um estudo abrangente da detecção de defeitos de semicondutores em imagens SEM usando SEMI-PointRend

A detecção de defeitos em semicondutores é um processo crítico na produção de circuitos integrados. É importante detectar quaisquer defeitos no processo de fabricação para garantir que o produto final seja de alta qualidade e atenda aos padrões exigidos. O uso de imagens de microscopia eletrônica de varredura (MEV) para detectar defeitos tem se tornado cada vez mais popular devido à sua capacidade de fornecer imagens detalhadas da superfície do semicondutor. No entanto, as técnicas tradicionais de análise de imagens SEM são limitadas em sua capacidade de detectar defeitos com precisão. Recentemente, uma nova técnica chamada SEMI-PointRendering foi

Explorando arquiteturas aproximadas de aceleradores usando estruturas FPGA automatizadas

O surgimento da computação aproximada abriu um novo mundo de possibilidades para projetistas de hardware. Aceleradores aproximados são um tipo de arquitetura de hardware que pode ser usado para acelerar cálculos sacrificando alguma precisão. Estruturas FPGA automatizadas são uma ferramenta poderosa para explorar essas arquiteturas aproximadas e podem ajudar os projetistas a avaliar rapidamente as compensações entre precisão e desempenho. Aceleradores aproximados são projetados para reduzir o tempo necessário para concluir um cálculo, sacrificando alguma precisão. Isto é feito introduzindo erros no cálculo, que

Explorando Arquiteturas Aproximadas de Aceleradores Usando o Automated Framework em FPGAs

O uso de Field Programmable Gate Arrays (FPGAs) para explorar arquiteturas aproximadas de aceleradores tornou-se cada vez mais popular nos últimos anos. Isso se deve à flexibilidade e escalabilidade dos FPGAs, que permitem o desenvolvimento de soluções de hardware customizadas para aplicações específicas. Estruturas automatizadas para explorar arquiteturas aproximadas de aceleradores em FPGAs foram desenvolvidas para tornar o processo mais eficiente e econômico. Uma estrutura automatizada para explorar arquiteturas aproximadas de aceleradores em FPGAs normalmente consiste em três componentes principais: uma ferramenta de síntese de alto nível, uma ferramenta de otimização e uma ferramenta de verificação.

Explorando aceleradores aproximados com estruturas automatizadas em FPGAs

Matrizes de portas programáveis ​​em campo (FPGAs) estão se tornando cada vez mais populares para acelerar aplicações em uma ampla variedade de setores. Os FPGAs oferecem a capacidade de customizar hardware para atender necessidades específicas, tornando-os uma opção atraente para aplicações que exigem alto desempenho e baixo consumo de energia. Frameworks automatizados estão sendo desenvolvidos para facilitar a exploração de aceleradores aproximados em FPGAs. Essas estruturas fornecem uma plataforma para os projetistas explorarem de forma rápida e fácil as compensações entre precisão e desempenho ao implementar aceleradores aproximados em FPGAs. Aceleradores aproximados são projetados para fornecer desempenho mais rápido

Explorando arquiteturas aproximadas de aceleradores usando estrutura de automação FPGA

O uso de Field Programmable Gate Arrays (FPGAs) para explorar arquiteturas aproximadas de aceleradores está se tornando cada vez mais popular. FPGAs são um tipo de circuito integrado que pode ser programado para realizar tarefas específicas, tornando-os ideais para explorar novas arquiteturas. Além disso, FPGAs são frequentemente usados ​​em aplicações de computação de alto desempenho, tornando-os uma plataforma ideal para explorar arquiteturas aproximadas de aceleradores. O FPGA Automation Framework (FAF) é uma plataforma de software que permite aos usuários explorar de forma rápida e fácil arquiteturas aproximadas de aceleradores usando FPGAs. FAF fornece um conjunto abrangente de ferramentas para projetar, simular e

Explorando aceleradores aproximados usando o framework automatizado na arquitetura FPGA

O uso de Field Programmable Gate Arrays (FPGAs) tornou-se cada vez mais popular nos últimos anos devido à sua capacidade de fornecer alto desempenho e flexibilidade. FPGAs são um tipo de circuito integrado que pode ser programado para realizar tarefas específicas, permitindo o desenvolvimento de soluções de hardware customizadas. Como tal, eles são frequentemente usados ​​para aplicações como sistemas embarcados, processamento de sinais digitais e processamento de imagens. No entanto, o desenvolvimento de soluções baseadas em FPGA pode ser demorado e complexo devido à necessidade de projeto e otimização manuais. Para enfrentar esse desafio, os pesquisadores

Explorando arquiteturas aproximadas de aceleradores com estruturas FPGA automatizadas

O potencial da computação aproximada tem sido explorado há décadas, mas os avanços recentes nas estruturas FPGA permitiram um novo nível de exploração. Arquiteturas aproximadas de aceleradores estão se tornando cada vez mais populares, pois oferecem uma maneira de reduzir o consumo de energia e melhorar o desempenho. Estruturas FPGA automatizadas estão agora disponíveis para ajudar os projetistas a explorar de forma rápida e fácil as possibilidades da computação aproximada. A computação aproximada é uma forma de computação que usa cálculos inexatos para alcançar um resultado desejado. Isso pode ser usado para reduzir o consumo de energia, melhorar o desempenho ou ambos. Aceleradores aproximados são

Melhorando o desempenho do transistor com materiais 2D: reduzindo a resistência de contato

Os transistores são os blocos de construção da eletrônica moderna e seu desempenho é essencial para o desenvolvimento de novas tecnologias. À medida que a tecnologia avança, aumenta a necessidade de transistores mais eficientes. Uma maneira de melhorar o desempenho do transistor é reduzindo a resistência de contato. A resistência de contato é a resistência entre dois materiais quando estão em contato um com o outro. Pode causar perdas significativas de energia e limitar o desempenho dos transistores. Avanços recentes em materiais bidimensionais (2D) abriram novas possibilidades para reduzir a resistência de contato. Materiais 2D são finas camadas de átomos

Melhorando o desempenho do transistor com materiais 2D: estratégias para minimizar a resistência de contato.

O desenvolvimento de transistores tem sido um fator importante no avanço da tecnologia moderna. Os transistores são usados ​​em diversas aplicações, desde computadores e smartphones até dispositivos médicos e equipamentos industriais. No entanto, um dos maiores desafios no projeto de transistores é minimizar a resistência de contato. A resistência de contato é a resistência entre dois contatos metálicos e pode reduzir significativamente o desempenho de um transistor. Felizmente, avanços recentes em materiais bidimensionais (2D) forneceram novas estratégias para minimizar a resistência de contato e melhorar o desempenho do transistor. Os materiais 2D são camadas atomicamente finas de