SEMI-PointRend: aprimorando a precisão e os detalhes da análise de defeitos de semicondutores em imagens de SEM
A análise de defeitos em semicondutores é um processo crítico para garantir a qualidade dos dispositivos semicondutores. Como tal, é importante ter uma análise precisa e detalhada dos defeitos presentes no dispositivo. SEMI-PointRend é uma nova tecnologia projetada para aprimorar a precisão e os detalhes da análise de defeitos de semicondutores em imagens SEM. SEMI-PointRend é uma solução baseada em software que usa algoritmos de aprendizado de máquina para analisar imagens SEM. Ele pode detectar e classificar defeitos nas imagens com alta precisão e detalhes. O software usa uma combinação de aprendizado profundo,