SEMI-PointRend: Osiągnięcie dokładniejszej i bardziej szczegółowej analizy defektów półprzewodników w obrazach SEM

Znacznik czasu: 10 marca 2023 7:21
Węzeł źródłowy: 2005960

Wady półprzewodników stanowią poważny problem w przemyśle elektronicznym. Zdolność do dokładnego i niezawodnego wykrywania i analizowania tych defektów jest niezbędna do zapewnienia jakości i niezawodności produktu. SEMI-PointRend to nowa technologia umożliwiająca dokładniejszą i bardziej szczegółową analizę defektów półprzewodników na obrazach SEM.

SEMI-PointRend to algorytm oparty na uczeniu maszynowym, który wykorzystuje kombinację technik przetwarzania obrazu i głębokiego uczenia się w celu dokładnego wykrywania i analizowania defektów półprzewodników w obrazach SEM. Algorytm ma na celu identyfikację i klasyfikację defektów na podstawie ich wielkości, kształtu i lokalizacji. Potrafi także wykryć subtelne różnice pomiędzy różnymi typami defektów, co pozwala na dokładniejszą i bardziej szczegółową analizę.

Algorytm działa w pierwszej kolejności poprzez wyodrębnienie cech z obrazów SEM. Funkcje te są następnie wykorzystywane do uczenia modelu głębokiego uczenia się, który może dokładnie wykrywać i klasyfikować defekty. Model jest następnie używany do analizy obrazów SEM i identyfikacji wszelkich występujących defektów. Wyniki służą następnie do wygenerowania szczegółowego raportu zawierającego listę wykrytych defektów, ich wielkość, kształt i lokalizację.

SEMI-PointRend jest ważnym narzędziem dla przemysłu elektronicznego, ponieważ umożliwia dokładniejszą i bardziej szczegółową analizę defektów półprzewodników w obrazach SEM. Technologia ta może pomóc w poprawie jakości i niezawodności produktów, dostarczając dokładniejszych informacji o defektach występujących w urządzeniach półprzewodnikowych. Dodatkowo może pomóc obniżyć koszty związane z wykrywaniem i analizą defektów, a także poprawić efektywność procesu.

Znak czasu:

Więcej z Półprzewodnik / Sieć3