SEMI-PointRend: Zwiększanie dokładności i szczegółowości analizy defektów półprzewodników w obrazach SEM
Analiza defektów półprzewodników jest krytycznym procesem zapewniającym jakość urządzeń półprzewodnikowych. W związku z tym ważna jest dokładna i szczegółowa analiza defektów występujących w urządzeniu. SEMI-PointRend to nowa technologia zaprojektowana w celu zwiększenia dokładności i szczegółowości analizy defektów półprzewodników na obrazach SEM. SEMI-PointRend to rozwiązanie oparte na oprogramowaniu, które wykorzystuje algorytmy uczenia maszynowego do analizy obrazów SEM. Może wykrywać i klasyfikować defekty w obrazach z dużą dokładnością i szczegółowością. Oprogramowanie wykorzystuje połączenie głębokiego uczenia się,