SEMI-PointRend: een nauwkeurigere en gedetailleerdere analyse van halfgeleiderdefecten in SEM-afbeeldingen realiseren

Bronknooppunt: 2005960

Halfgeleiderdefecten vormen een groot probleem voor de elektronica-industrie. Het vermogen om deze defecten nauwkeurig en betrouwbaar te detecteren en analyseren is essentieel voor het garanderen van de productkwaliteit en betrouwbaarheid. SEMI-PointRend is een nieuwe technologie die een nauwkeurigere en gedetailleerdere analyse van halfgeleiderdefecten in SEM-beelden mogelijk maakt.

SEMI-PointRend is een op machine learning gebaseerd algoritme dat een combinatie van beeldverwerking en deep learning-technieken gebruikt om halfgeleiderdefecten in SEM-beelden nauwkeurig te detecteren en analyseren. Het algoritme is ontworpen om defecten te identificeren en te classificeren op basis van hun grootte, vorm en locatie. Het kan ook subtiele verschillen tussen verschillende soorten defecten detecteren, waardoor een nauwkeurigere en gedetailleerdere analyse mogelijk is.

Het algoritme werkt door eerst kenmerken uit de SEM-afbeeldingen te extraheren. Deze functies worden vervolgens gebruikt om een ​​deep learning-model te trainen dat defecten nauwkeurig kan detecteren en classificeren. Het model wordt vervolgens gebruikt om de SEM-beelden te analyseren en eventuele aanwezige defecten te identificeren. De resultaten worden vervolgens gebruikt om een ​​gedetailleerd rapport te genereren met een lijst van de gedetecteerde defecten, hun grootte, vorm en locatie.

SEMI-PointRend is een belangrijk hulpmiddel voor de elektronica-industrie omdat het een nauwkeurigere en gedetailleerdere analyse van halfgeleiderdefecten in SEM-beelden mogelijk maakt. Deze technologie kan de productkwaliteit en betrouwbaarheid helpen verbeteren door nauwkeurigere informatie te verschaffen over de defecten in de halfgeleiderapparaten. Bovendien kan het de kosten helpen verlagen die gepaard gaan met de detectie en analyse van defecten, en de efficiëntie van het proces verbeteren.

Tijdstempel:

Meer van Halfgeleider / Web3