1透過電子顕微鏡用大学サービスセンター、TU Wien、Wiedner Hauptstraße 8-10/E057-02、1040 Wien、オーストリア
2Institute of Solid State Physics, TU Wien, Wiedner Hauptstraße 8-10/E138-03, 1040 Wien, オーストリア
3CEOS Corrected Electron Optical Systems GmbH、Englerstraße 28、69126 ハイデルベルク、ドイツ
4Ernst Ruska-Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons (ER-C) および Peter Grünberg Institute、Forschungszentrum Jülich、52425 Jülich、ドイツ
5RWTH アーヘン大学、Ahornstraße 55、52074 アーヘン、ドイツ
6Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)、Karlsruher Institut für Technologie (KIT)、Engesserstraße 7、76131 カールスルーエ、ドイツ
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抽象
渦電子のトポロジカル電荷 $m$ は無限次元のヒルベルト空間に広がります。 $m=pm 1$ で広がる XNUMX 次元部分空間を選択すると、透過型電子顕微鏡 (TEM) 内のビーム電子は、柱内を自由に伝播する量子ビット (qubit) とみなすことができます。 電子光学四重極レンズの組み合わせは、実験者の裁量でそのような量子ビットを操作するための汎用デバイスとして機能します。 TEM プローブ形成レンズ系を量子ゲートとして設定し、その作用を数値的および実験的に実証します。 収差補正器を備えたハイエンド TEM は、このような実験の有望なプラットフォームであり、電子顕微鏡で量子論理ゲートを研究する道を開きます。
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