SEMI-PointRend: SEM 画像における半導体欠陥解析の精度と詳細の向上
半導体の欠陥解析は、半導体デバイスの品質を確保するための重要なプロセスです。 したがって、デバイスに存在する欠陥を正確かつ詳細に分析することが重要です。 SEMI-PointRend は、SEM 画像での半導体欠陥分析の精度と詳細を向上させるために設計された新しいテクノロジーです。 SEMI-PointRend は、機械学習アルゴリズムを使用して SEM 画像を分析するソフトウェアベースのソリューションです。 画像内の欠陥を高精度かつ詳細に検出および分類できます。 このソフトウェアはディープラーニングを組み合わせて使用しており、