SEMI-PointRend: השגת דיוק ודיוק משופרים בניתוח פגמי מוליכים למחצה מתמונות SEM

צומת המקור: 2007654

בתעשיית המוליכים למחצה, ניתוח פגמים הוא חלק חשוב מתהליך הייצור. פגמים עלולים לגרום לבעיות משמעותיות באיכות המוצר הסופי ויכולים להוביל לתיקונים או החלפות יקרים. כדי להבטיח גילוי וטיפול מהיר של ליקויים, חשוב להצטייד בכלי ניתוח ליקויים מדויקים ומדויקים. כלי אחד כזה הוא SEMI-PointRend, פתרון תוכנה שנועד לשפר את הדיוק והדיוק של ניתוח פגמים מוליכים למחצה מסריקת תמונות של מיקרוסקופ אלקטרוני (SEM).

SEMI-PointRend היא חבילת תוכנה המשתמשת בשילוב של למידת מכונה ואלגוריתמים לעיבוד תמונה כדי לזהות ולסווג פגמים בתמונות SEM. היא משתמשת בגישה מבוססת למידה עמוקה כדי לזהות ולסווג ליקויים, ומאפשרת לו להגיע לדיוק ודיוק גבוהים יותר משיטות מסורתיות. התוכנה כוללת גם ממשק ידידותי למשתמש, המאפשר למשתמשים לנתח תמונות SEM במהירות ובקלות.

התוכנה מיועדת לשימוש בשילוב עם מיקרוסקופ אלקטרוני סורק (SEM). ה-SEM משמש לצילום תמונות ברזולוציה גבוהה של חומר המוליך למחצה, אשר מנותחות לאחר מכן על ידי SEMI-PointRend. התוכנה משתמשת באלגוריתמים מתקדמים כדי לזהות ולסווג פגמים בתמונות, ומספקת למשתמשים מידע מפורט על הפגמים. לאחר מכן ניתן להשתמש במידע זה כדי לקבוע את סיבת הפגם ולנקוט בפעולה מתקנת.

הוכח כי SEMI-PointRend משפר את הדיוק והדיוק של ניתוח פגמים מתמונות SEM. זה יכול להוביל לשיפור בקרת האיכות בתעשיית המוליכים למחצה, להפחתת עלויות הקשורות לתיקונים או להחלפות עקב פגמים שלא זוהו. בנוסף, הממשק הידידותי של התוכנה מקל על השימוש, ומאפשר למשתמשים לנתח במהירות תמונות SEM ולנקוט פעולה מתקנת.

בסך הכל, SEMI-PointRend הוא כלי יעיל לשיפור הדיוק והדיוק של ניתוח פגמים מוליכים למחצה מתמונות SEM. הגישה המבוססת על למידה עמוקה של התוכנה מאפשרת לה לזהות ולסווג פגמים בדיוק ודיוק גבוהים יותר משיטות מסורתיות, מה שמוביל לשיפור בקרת האיכות בתעשיית המוליכים למחצה. בנוסף, הממשק הידידותי למשתמש שלו מקל על השימוש, ומאפשר למשתמשים לנתח במהירות תמונות SEM ולנקוט פעולה מתקנת.

בול זמן:

עוד מ מוליכים למחצה / Web3