SEMI-PointRend: analisi migliorata dei difetti dei semiconduttori nelle immagini SEM

Nel mondo della produzione di semiconduttori, i difetti possono avere un enorme impatto sulle prestazioni del dispositivo. Pertanto, è importante essere in grado di rilevare e analizzare accuratamente questi difetti per garantire che il dispositivo funzioni correttamente. SEMI-PointRend è un nuovo strumento che è stato sviluppato per aiutare in questo compito.

SEMI-PointRend è uno strumento di analisi migliorato per i difetti dei semiconduttori nelle immagini al microscopio elettronico a scansione (SEM). Utilizza algoritmi di apprendimento automatico per rilevare e classificare i difetti nelle immagini SEM. Lo strumento è progettato per essere veloce e preciso e consente l'analisi rapida di un gran numero di immagini. È inoltre in grado di rilevare difetti sia nelle immagini 2D che 3D.

Lo strumento funziona estraendo innanzitutto le caratteristiche dalle immagini SEM. Queste funzionalità vengono quindi utilizzate per addestrare un modello di apprendimento automatico che viene poi utilizzato per rilevare e classificare i difetti nelle immagini. Il modello è in grado di rilevare un'ampia gamma di difetti, inclusi vuoti, crepe e altre anomalie. Lo strumento fornisce inoltre informazioni dettagliate su ciascun difetto, come dimensione e forma.

SEMI-PointRend è stato testato su una varietà di diversi tipi di dispositivi a semiconduttore ed è risultato estremamente accurato. È inoltre in grado di rilevare difetti che potrebbero non essere visibili a occhio nudo, rendendolo uno strumento prezioso per i produttori di semiconduttori.

Nel complesso, SEMI-PointRend è un potente strumento per analizzare i difetti dei semiconduttori nelle immagini SEM. È veloce, preciso e in grado di rilevare un'ampia gamma di difetti. Ciò lo rende uno strumento prezioso per i produttori di semiconduttori che devono garantire che i loro dispositivi funzionino correttamente.

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• Fonte: Plato Data Intelligence: PlatoAiStream