SEMI-PointRend: Peningkatan Analisis Cacat Semikonduktor pada Gambar SEM

Dalam dunia manufaktur semikonduktor, cacat dapat berdampak besar pada kinerja perangkat. Oleh karena itu, penting untuk dapat mendeteksi dan menganalisis cacat ini secara akurat untuk memastikan perangkat berfungsi dengan baik. SEMI-PointRend adalah alat baru yang telah dikembangkan untuk membantu tugas ini.

SEMI-PointRend adalah alat analisis yang ditingkatkan untuk cacat semikonduktor dalam pemindaian gambar mikroskop elektron (SEM). Ia menggunakan algoritma pembelajaran mesin untuk mendeteksi dan mengklasifikasikan cacat pada gambar SEM. Alat ini dirancang agar cepat dan akurat, memungkinkan analisis cepat terhadap sejumlah besar gambar. Ia juga mampu mendeteksi cacat pada gambar 2D dan 3D.

Alat ini bekerja dengan terlebih dahulu mengekstraksi fitur dari gambar SEM. Fitur-fitur ini kemudian digunakan untuk melatih model pembelajaran mesin yang kemudian digunakan untuk mendeteksi dan mengklasifikasikan cacat pada gambar. Model ini mampu mendeteksi berbagai macam cacat, termasuk rongga, retakan, dan anomali lainnya. Alat ini juga memberikan informasi rinci tentang setiap cacat, seperti ukuran dan bentuknya.

SEMI-PointRend telah diuji pada berbagai jenis perangkat semikonduktor dan terbukti sangat akurat. Ia juga mampu mendeteksi cacat yang mungkin tidak terlihat dengan mata telanjang, menjadikannya alat yang sangat berharga bagi produsen semikonduktor.

Secara keseluruhan, SEMI-PointRend adalah alat yang ampuh untuk menganalisis cacat semikonduktor pada gambar SEM. Ini cepat, akurat, dan mampu mendeteksi berbagai macam cacat. Hal ini menjadikannya alat yang sangat berharga bagi produsen semikonduktor yang perlu memastikan perangkat mereka berfungsi dengan baik.

• Konten Bertenaga SEO & Distribusi PR. Dapatkan Amplifikasi Hari Ini.
• Platoblockchain. Intelijen Metaverse Web3. Pengetahuan Diperkuat. Akses Di Sini.
• Sumber: Intelijen Data Plato: PlatoAiStream