ererPeningkatan Analisis Cacat Semikonduktor pada Gambar SEM Menggunakan SEMI-PointRenderer

Stempel Waktu: 10 Maret 2023 7
Node Sumber: 2006951

Cacat semikonduktor merupakan faktor penting dalam produksi komponen elektronik. Cacat dapat menyebabkan penurunan kinerja, peningkatan biaya, dan bahkan kegagalan produk. Oleh karena itu, penting untuk mendeteksi dan menganalisis cacat semikonduktor secara akurat untuk memastikan kualitas produk akhir.

Salah satu cara untuk menganalisis cacat semikonduktor adalah melalui penggunaan gambar pemindaian mikroskop elektron (SEM). Gambar SEM memberikan tampilan detail permukaan perangkat semikonduktor, memungkinkan deteksi dan analisis cacat. Namun, metode tradisional dalam menganalisis gambar SEM memakan waktu dan tenaga.

Untuk mengatasi masalah ini, para peneliti telah mengembangkan metode baru yang disebut SEMI-PointRenderer. Metode ini menggunakan kombinasi teknik computer vision dan pembelajaran mesin untuk secara otomatis mendeteksi dan menganalisis cacat semikonduktor pada gambar SEM. Sistem ini mampu mengidentifikasi berbagai jenis cacat, seperti retakan, rongga, dan anomali lainnya. Alat ini juga dapat mengukur ukuran dan bentuk cacat, serta lokasinya pada permukaan perangkat.

Penggunaan SEMI-PointRenderer telah terbukti meningkatkan akurasi dan kecepatan analisis cacat dibandingkan metode tradisional. Hal ini dapat mengarah pada peningkatan kontrol kualitas dan pengurangan biaya yang terkait dengan produksi semikonduktor. Selain itu, sistem ini dapat digunakan untuk mengidentifikasi potensi sumber kegagalan sebelum produk dirilis, sehingga memungkinkan dilakukannya tindakan perbaikan proaktif.

Secara keseluruhan, SEMI-PointRenderer menyediakan cara yang efisien dan akurat untuk menganalisis cacat semikonduktor pada gambar SEM. Dengan menggunakan sistem ini, produsen dapat meningkatkan kualitas produknya dan mengurangi biaya yang terkait dengan produksi.

Stempel Waktu:

Lebih dari Semikonduktor / Web3