L'industrie des semi-conducteurs évolue et s'améliore constamment, et avec elle, la nécessité d'analyser les défauts dans les images des semi-conducteurs. SEMI-PointRend est une nouvelle approche d'analyse des défauts dans les images SEM qui fournit des résultats plus précis et détaillés.
SEMI-PointRend est une méthode basée sur la vision par ordinateur pour analyser les défauts des images SEM. Il utilise une combinaison de techniques de traitement d’images et d’algorithmes d’apprentissage automatique pour détecter et classer les défauts des images. Le système détecte d’abord les défauts de l’image, puis les classe selon leur type. Cela permet une analyse plus précise et détaillée des défauts.
Le système utilise une combinaison de techniques de traitement d'image telles que la détection des contours, l'extraction de caractéristiques et la segmentation pour détecter les défauts. Il utilise ensuite des algorithmes d’apprentissage automatique tels que les machines à vecteurs de support et l’apprentissage profond pour classer les défauts. Cela permet une analyse plus précise et détaillée des défauts.
Le système a été testé sur une variété d’images SEM et s’est révélé plus précis et plus détaillé que les méthodes traditionnelles. Il est capable de détecter et de classer les défauts avec une plus grande précision que les méthodes traditionnelles, et il est également capable de détecter les défauts qui ne sont pas visibles à l'œil nu.
SEMI-PointRend est un outil puissant pour analyser les défauts des images SEM. Elle est capable de fournir des résultats plus précis et détaillés que les méthodes traditionnelles, et elle est également capable de détecter des défauts qui ne sont pas visibles à l’œil nu. Cela en fait un outil précieux pour l’industrie des semi-conducteurs, car il peut aider à identifier et à résoudre les problèmes potentiels avant qu’ils ne deviennent un problème.
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