SEMI-PointRend: افزایش دقت و جزئیات تجزیه و تحلیل نقص نیمه هادی در تصاویر SEM
تجزیه و تحلیل عیب نیمه هادی یک فرآیند حیاتی برای اطمینان از کیفیت دستگاه های نیمه هادی است. به این ترتیب، تجزیه و تحلیل دقیق و دقیق از عیوب موجود در دستگاه مهم است. SEMI-PointRend یک فناوری جدید است که برای افزایش دقت و جزئیات تجزیه و تحلیل نقص نیمه هادی در تصاویر SEM طراحی شده است. SEMI-PointRend یک راه حل مبتنی بر نرم افزار است که از الگوریتم های یادگیری ماشین برای تجزیه و تحلیل تصاویر SEM استفاده می کند. می تواند عیوب تصاویر را با دقت و جزئیات بالا شناسایی و طبقه بندی کند. این نرم افزار از ترکیبی از یادگیری عمیق استفاده می کند،