SEMI-PointRend: Forbedret analyse af halvlederdefekter i SEM-billeder

Tidsstempel: 10. marts 2023 kl. 7
Kildeknude: 2005941

I en verden af ​​halvlederfremstilling kan defekter have en enorm indflydelse på enhedens ydeevne. Som sådan er det vigtigt at være i stand til nøjagtigt at opdage og analysere disse defekter for at sikre, at enheden fungerer korrekt. SEMI-PointRend er et nyt værktøj, der er blevet udviklet til at hjælpe med denne opgave.

SEMI-PointRend er et forbedret analyseværktøj til halvlederdefekter i scanning elektronmikroskop (SEM) billeder. Den bruger maskinlæringsalgoritmer til at opdage og klassificere fejl i SEM-billeder. Værktøjet er designet til at være hurtigt og præcist, hvilket giver mulighed for hurtig analyse af et stort antal billeder. Den er også i stand til at opdage fejl i både 2D- og 3D-billeder.

Værktøjet fungerer ved først at udtrække funktioner fra SEM-billederne. Disse funktioner bruges derefter til at træne en maskinlæringsmodel, som derefter bruges til at opdage og klassificere fejl i billederne. Modellen er i stand til at opdage en lang række defekter, herunder hulrum, revner og andre uregelmæssigheder. Værktøjet giver også detaljerede oplysninger om hver defekt, såsom dens størrelse og form.

SEMI-PointRend er blevet testet på en række forskellige typer halvlederenheder og har vist sig at være yderst nøjagtige. Det er også i stand til at opdage defekter, der måske ikke er synlige for det blotte øje, hvilket gør det til et uvurderligt værktøj for halvlederproducenter.

Samlet set er SEMI-PointRend et kraftfuldt værktøj til at analysere halvlederdefekter i SEM-billeder. Det er hurtigt, præcist og i stand til at opdage en lang række defekter. Dette gør det til et uvurderligt værktøj for halvlederproducenter, der skal sikre, at deres enheder fungerer korrekt.

Tidsstempel:

Mere fra Halvleder / Web3