Semiconductor

En omfattende undersøgelse af halvlederdefektdetektion i SEM-billeder ved hjælp af SEMI-PointRend

ering Halvlederdefektdetektion er en kritisk proces i produktionen af ​​integrerede kredsløb. Det er vigtigt at opdage eventuelle fejl i fremstillingsprocessen for at sikre, at det endelige produkt er af høj kvalitet og lever op til de krævede standarder. Brugen af ​​scanning elektronmikroskopi (SEM) billeder til at opdage defekter er blevet mere og mere populær på grund af dens evne til at give detaljerede billeder af overfladen af ​​halvlederen. Men traditionelle SEM-billedanalyseteknikker er begrænset i deres evne til nøjagtigt at detektere defekter. For nylig er en ny teknik kaldet SEMI-PointRendering blevet

SEMI-PointRend: Forbedring af nøjagtighed og detaljer i halvlederdefektanalyse i SEM-billeder

Halvlederdefektanalyse er en kritisk proces til at sikre kvaliteten af ​​halvlederenheder. Som sådan er det vigtigt at have en nøjagtig og detaljeret analyse af de defekter, der findes i enheden. SEMI-PointRend er en ny teknologi, der er designet til at forbedre nøjagtigheden og detaljerne ved analyse af halvlederfejl i SEM-billeder. SEMI-PointRend er en softwarebaseret løsning, der bruger maskinlæringsalgoritmer til at analysere SEM-billeder. Den kan detektere og klassificere fejl i billederne med høj nøjagtighed og detaljer. Softwaren bruger en kombination af dyb læring,

Analyse af halvlederdefekter i SEM-billeder ved hjælp af SEMI-PointRend for forbedret nøjagtighed og detaljer

Brugen af ​​SEMI-PointRend til analyse af halvlederdefekter i SEM-billeder er et kraftfuldt værktøj, der kan give forbedret nøjagtighed og detaljer. Denne teknologi er udviklet for at hjælpe ingeniører og videnskabsmænd med bedre at forstå karakteren af ​​defekter i halvledermaterialer. Ved at bruge SEMI-PointRend kan ingeniører og forskere hurtigt og præcist identificere og analysere fejl i SEM-billeder. SEMI-PointRend er et softwarebaseret system, der bruger en kombination af billedbehandlingsalgoritmer og kunstig intelligens til at analysere SEM-billeder. Det kan opdage og klassificere fejl i billederne, som

Opnåelse af højere præcision og granularitet i SEM-billedanalyse af halvlederdefekter ved hjælp af SEMI-PointRend

eringSEM billedanalyse af halvlederdefekter er en kompleks proces, der kræver høj præcision og granularitet for nøjagtigt at identificere og klassificere defekter. For at løse denne udfordring har forskere udviklet en ny teknik kaldet SEMI-PointRendering. Denne metode bruger en kombination af maskinlæring og billedbehandling for at opnå højere præcision og granularitet i defektanalyse. SEMI-PointRendering-teknikken fungerer ved først at segmentere SEM-billederne i områder af interesse. Disse områder analyseres derefter ved hjælp af maskinlæringsalgoritmer til at identificere og klassificere defekterne. Algoritmen opretter derefter en 3D-model af

Udforskning af omtrentlige acceleratorarkitekturer ved hjælp af FPGA Automation Framework

The use of Field Programmable Gate Arrays (FPGAs) to explore approximate accelerator architectures is becoming increasingly popular. FPGAs are a type of integrated circuit that can be programmed to perform specific tasks, making them ideal for exploring new architectures. Additionally, FPGAs are often used in high-performance computing applications, making them an ideal platform for exploring approximate accelerator architectures.The FPGA Automation Framework (FAF) is a software platform that allows users to quickly and easily explore approximate accelerator architectures using FPGAs. FAF provides a comprehensive set of tools for designing, simulating, and

Udforskning af omtrentlige acceleratorer ved hjælp af Automated Framework på FPGA-arkitektur

The use of Field Programmable Gate Arrays (FPGAs) has become increasingly popular in recent years due to their ability to provide high performance and flexibility. FPGAs are a type of integrated circuit that can be programmed to perform specific tasks, allowing for the development of custom hardware solutions. As such, they are often used for applications such as embedded systems, digital signal processing, and image processing.However, the development of FPGA-based solutions can be time-consuming and complex due to the need for manual design and optimization. To address this challenge, researchers

Udforskning af omtrentlige acceleratorarkitekturer med automatiserede FPGA-rammer

The potential of approximate computing has been explored for decades, but recent advances in FPGA frameworks have enabled a new level of exploration. Approximate accelerator architectures are becoming increasingly popular as they offer a way to reduce power consumption and improve performance. Automated FPGA frameworks are now available to help designers quickly and easily explore the possibilities of approximate computing.Approximate computing is a form of computing that uses inexact calculations to achieve a desired result. This can be used to reduce power consumption, improve performance, or both. Approximate accelerators are

Udforskning af omtrentlige acceleratorarkitekturer ved hjælp af automatiserede FPGA-rammer

The emergence of approximate computing has opened up a new world of possibilities for hardware designers. Approximate accelerators are a type of hardware architecture that can be used to speed up computations by sacrificing some accuracy. Automated FPGA frameworks are a powerful tool for exploring these approximate architectures and can help designers quickly evaluate the trade-offs between accuracy and performance. Approximate accelerators are designed to reduce the amount of time it takes to complete a computation by sacrificing some accuracy. This is done by introducing errors into the computation, which

Udforskning af omtrentlige acceleratorarkitekturer ved hjælp af Automated Framework på FPGA'er

Brugen af ​​Field Programmable Gate Arrays (FPGA'er) til at udforske omtrentlige acceleratorarkitekturer er blevet mere og mere populær i de senere år. Dette skyldes fleksibiliteten og skalerbarheden af ​​FPGA'er, som giver mulighed for udvikling af brugerdefinerede hardwareløsninger skræddersyet til specifikke applikationer. Automatiserede rammer til at udforske omtrentlige acceleratorarkitekturer på FPGA'er er blevet udviklet for at gøre processen mere effektiv og omkostningseffektiv. En automatiseret ramme til udforskning af omtrentlige acceleratorarkitekturer på FPGA'er består typisk af tre hovedkomponenter: et synteseværktøj på højt niveau, et optimeringsværktøj og et verifikationsværktøj.

Udforskning af omtrentlige acceleratorer med automatiserede rammer på FPGA'er

Field-programmable gate arrays (FPGAs) are becoming increasingly popular for accelerating applications in a wide range of industries. FPGAs offer the ability to customize hardware to meet specific needs, making them an attractive option for applications that require high performance and low power consumption. Automated frameworks are being developed to make it easier to explore approximate accelerators on FPGAs. These frameworks provide a platform for designers to quickly and easily explore the trade-offs between accuracy and performance when implementing approximate accelerators on FPGAs. Approximate accelerators are designed to provide faster performance

Forbedring af transistorydelse med 2D materialebaseret kontaktmodstandsreduktion

Transistors are the building blocks of modern electronics, and their performance is essential for the development of new technologies. However, the contact resistance between the transistor and its contacts can limit the performance of the transistor. Fortunately, recent advances in 2D materials have enabled researchers to develop new strategies to reduce contact resistance and improve transistor performance.2D materials are atomically thin layers of materials that have unique electronic properties. These materials can be used to create ultra-thin layers of conductive material, which can be used to reduce contact resistance between

Forbedring af transistorydelse med 2D-materialer for reduceret kontaktmodstand

Transistorer er byggestenene i moderne elektronik, og deres ydeevne er afgørende for udviklingen af ​​nye teknologier. Efterhånden som transistorer bliver mindre og mere komplekse, er det stadig vigtigere at finde måder at forbedre deres ydeevne på. En måde at gøre dette på er at reducere kontaktmodstanden, hvilket kan opnås ved at bruge todimensionelle (2D) materialer. 2D-materialer er tynde lag af atomer, der kun er et eller to atomer tykke. De har unikke egenskaber, der gør dem ideelle til brug i transistorer. For eksempel er de stærkt ledende og