SEMI-PointRend: تحقيق تحليل أكثر دقة وتفصيلاً لعيوب أشباه الموصلات في صور SEM

الطابع الزمني: 10 آذار (مارس) 2023 ، الساعة 7:21 مساءً
عقدة المصدر: 2005960

تعتبر عيوب أشباه الموصلات مصدر قلق كبير لصناعة الإلكترونيات. تعد القدرة على اكتشاف هذه العيوب وتحليلها بدقة وموثوقية أمرًا ضروريًا لضمان جودة المنتج وموثوقيته. SEMI-PointRend هي تقنية جديدة تتيح إجراء تحليل أكثر دقة وتفصيلاً لعيوب أشباه الموصلات في صور SEM.

SEMI-PointRend هي خوارزمية قائمة على التعلم الآلي تستخدم مزيجًا من تقنيات معالجة الصور والتعلم العميق لاكتشاف عيوب أشباه الموصلات وتحليلها بدقة في صور SEM. تم تصميم الخوارزمية لتحديد العيوب وتصنيفها بناءً على حجمها وشكلها وموقعها. ويمكنه أيضًا اكتشاف الاختلافات الدقيقة بين الأنواع المختلفة من العيوب، مما يسمح بإجراء تحليل أكثر دقة وتفصيلاً.

تعمل الخوارزمية أولاً عن طريق استخراج الميزات من صور SEM. يتم بعد ذلك استخدام هذه الميزات لتدريب نموذج التعلم العميق الذي يمكنه اكتشاف العيوب وتصنيفها بدقة. يتم بعد ذلك استخدام النموذج لتحليل صور SEM وتحديد أي عيوب موجودة. يتم بعد ذلك استخدام النتائج لإنشاء تقرير تفصيلي يتضمن قائمة بالعيوب المكتشفة وحجمها وشكلها وموقعها.

تعد SEMI-PointRend أداة مهمة لصناعة الإلكترونيات لأنها تتيح إجراء تحليل أكثر دقة وتفصيلاً لعيوب أشباه الموصلات في صور SEM. يمكن أن تساعد هذه التقنية في تحسين جودة المنتج وموثوقيته من خلال توفير معلومات أكثر دقة حول العيوب الموجودة في أجهزة أشباه الموصلات. بالإضافة إلى ذلك، يمكن أن يساعد في تقليل التكاليف المرتبطة باكتشاف العيوب وتحليلها، بالإضافة إلى تحسين كفاءة العملية.

الطابع الزمني:

اكثر من أشباه الموصلات / Web3